[实用新型]一种便携式相控阵超声波扫查装置有效

专利信息
申请号: 202220707184.5 申请日: 2022-03-29
公开(公告)号: CN217133052U 公开(公告)日: 2022-08-05
发明(设计)人: 张荣繁;郭智敏;付康;左欣;唐盛明;郑颖;李红伟 申请(专利权)人: 中国兵器科学研究院宁波分院
主分类号: G01N29/06 分类号: G01N29/06;G01N29/22;G01N29/265
代理公司: 宁波诚源专利事务所有限公司 33102 代理人: 袁忠卫;付华
地址: 315103 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 便携式 相控阵 超声波 装置
【说明书】:

一种便携式相控阵超声波扫查装置,包括:探头架组件,用于安装探头;其特征在于,还包括:步进导轨,所述探头架组件可左右移动地安装在所述步进导轨上;基座,其上能放置待检测工件;两个扫查导轨,沿左右方向间隔、并悬于所述基座上,且各扫查导轨上均开有前后延伸的第一滑槽;两个握把,分别设于所述步进导轨的左右两端,且各握把上均设有第一滚轮,各第一滚轮均可滚动地设于对应侧的第一滑槽中,使该便携式相控阵超声波扫查装置能够对待检测工件的表面进行大面积C扫描成像扫查。

技术领域

实用新型涉及超声波无损检测,特别涉及一种便携式相控阵超声波扫查装置。

背景技术

超声波无损检测,是无损检测中应用较为广泛的一种检测方法,可适用于金属、非金属和复合材料,且能对被检测工件内部缺陷的大小、位置、方向、深度、性质等进行定量、定位和定性分析。当前,在利用计算机、微电子、传感及图像处理、缺陷识别等新技术以后,超声检测技术尤其是超声波C扫描成像在工业领域获得了较快发展。特别针对零部件内部质量、焊接质量、粘接质量等的无损检测与评判,超声波C扫描成像相对于其他无损检测方法具有缺陷易识别、可进行精确定量分析等的综合优势。在利用单晶片探头进行传统机械扫查时,为保证成像质量,弓字形扫描步距较小(通常1mm),导致扫查大尺寸板材等工件需要耗时较长,严重影响检测效率。

相控阵检测技术,是采用线阵、2D面阵、圆环阵及弧面凹阵等不同类型的阵元晶片探头,通过电子方式控制阵元各晶片的延迟实现声波的合成、偏转和聚焦,具有很高的声束可控性,可以实现复杂型面部件和特殊部位的多方位、高效率能量聚集与扫描。采用超声波相控阵检测方法,可通过大范围线性电子扫查、大角度扇形扫查、全聚焦成像等方式,实现工件内部不同取向的缺陷检测,并以图像形式直观显示检测结果,从而有效提升缺陷的检出率。相比传统的单晶片探头弓字形C扫描成像,相控阵扫描成像可大幅度提高检测效率。

目前的相控阵超声波扫查装置主要有两种:第一种是大型智能扫查设备,这种设备通常配置有水槽,使待检工件及超声波探头处于水浸环境,以降低超声波信号的衰减程度,探头不直接接触待检测工件表面,还配置有多轴机械系统或工业机器人来实现探头在水中的移动;第二种是便携式扫查设备,这种设备的探头是直接与待检测工件耦合,通过手持探头进行移动。

与大型智能扫查设备相比,现有的便携式相控阵超声波扫查设备能够人工控制控制探头的实时移动情况,从而能够避免智能扫查设备探头位移检测装置存在的误差,使探头不容易因碰撞机座和待检测工件的边角而受损,而且,设备操作更加简单,对操作人员的要求较低,此外,设备更加简单,成本低,适用于野外检测和现场检测,携带方便,应用性较强。但是,目前的便携式相控阵超声波扫查设备只能进行单维度的扫查成像,难以实现大面积C扫描成像扫查,需要多次重复扫描成像操作,造成检测耗时较长,效率较低。

实用新型内容

本实用新型所要解决的第一个技术问题是针对上述的技术现状而提供一种能够对待检测工件的表面进行大面积C扫描成像扫查的便携式相控阵超声波扫查装置。

本实用新型所要解决的第二个技术问题是针对上述的技术现状而提供一种便携式相控阵超声波扫查装置,能够调节探头的高度位置从而能够匹配不同型号规格的待检测工件。

本实用新型解决上述的第一个技术问题所采用的技术方案为:一种便携式相控阵超声波扫查装置,包括:

探头架组件,用于安装探头;

其特征在于,还包括:

步进导轨,所述探头架组件可左右移动地安装在所述步进导轨上;

基座,其上能放置待检测工件;

两个扫查导轨,沿左右方向间隔、并悬于所述基座上,且各扫查导轨上均开有前后延伸的第一滑槽;

两个握把,分别设于所述步进导轨的左右两端,且各握把上均设有第一滚轮,各第一滚轮均可滚动地设于对应侧的第一滑槽中。

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