[实用新型]一种石英晶体谐振器密封性能检漏装置

说明书

本实用新型涉及电子元件技术领域，具体涉及一种石英晶体谐振器密封性能检漏装置，其包括：底板，控制器、气泵以及检测箱，气泵与控制器电性连接；检测箱顶部设有盖板；检测箱内部中央设有放置板，放置板设有上下贯通的通道；第一泄压管，第一泄压管贯穿检测箱外侧壁与下部空间连通，泄压管设有第一电磁阀；输气管，输气管贯穿检测箱外侧壁与上部空间连通，输气管通过第三电磁阀与气泵连通；检测箱的正面分别固定连接有计时器、第一压力传感器、第二压力传感器；本实用新型可对晶体谐振器封壳前的引脚绝缘部密封缺陷进行检测，也可以对封壳后的晶体谐振器外壳抗压强度，及外壳密封缺陷进行检测。

技术领域

本实用新型涉及电子元件技术领域，具体涉及一种石英晶体谐振器密封性能检漏装置。

背景技术

石英晶体谐振器简称石英晶体或晶振，是利用石英晶体的压电效应，用来产生高精度振荡频率的一种电子元件，属于被动元件。

石英晶体谐振器在压封时，谐振器内部要求抽真空并充入氮气，以保证石英晶片不被腐蚀并且能够正常起振，石英晶体谐振器在完成压封、封焊之后，需要对石英晶体谐振器的密封性能进行检测，石英晶体谐振器封装后是否漏气，是晶体产品可靠性的重要指标之一，一般在检测之前需要将谐振器放置在检测液中加压，再进行谐振器性能检测，因此我们提出一种石英晶体谐振器密封性能检漏装置。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种石英晶体谐振器密封性能检漏装置，可对晶体谐振器封壳前的引脚绝缘部密封缺陷进行检测，也可以对封壳后的晶体谐振器外壳抗压强度，及外壳密封缺陷进行检测。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种石英晶体谐振器密封性能检漏装置，其包括：底板，所述底板顶部固定连接有控制器、气泵以及检测箱，所述气泵与所述控制器电性连接；所述检测箱顶部设有盖板，所述盖板四周边缘通过密封圈与所述检测箱顶部密封配合；所述检测箱内部中央水平设有放置板，所述放置板将所述检测箱内部隔离成上部空间和下部空间，并且所述放置板设有上下贯通的通道，所述通道用于嵌入晶振元件；第一泄压管，所述第一泄压管贯穿所述检测箱外侧壁与所述下部空间连通，并且所述第一泄压管设有第一电磁阀，所述第一电磁阀与所述控制器电性连接；第二泄压管，所述第二泄压管贯穿所述检测箱外侧壁与所述下部空间连通，并且所述第二泄压管设有第二电磁阀，所述第二电磁阀与所述控制器电性连接；输气管，所述输气管贯穿所述检测箱外侧壁与所述上部空间连通，并且所述输气管通过第三电磁阀与所述气泵连通，所述第三电磁阀与所述控制器电性连接；所述检测箱的正面分别固定连接有计时器、第一压力传感器、第二压力传感器；所述第一压力传感器与所述上部空间连通，所述第二压力传感器与所述下部空间连通；所述计时器、所述第一压力传感器、所述第二压力传感器均与所述控制器电性连接，所述控制器设有扬声器。

优选的，所述检测箱内侧壁中部环周向的设有台阶，所述放置板通过四周边缘放置在所述台阶上，并通过贯穿所述放置板的螺栓与所述台阶固定配合；所述放置板四周边缘与所述台阶之间设有密封胶。

优选的，所述通道顶部设有放置槽，所述晶振元件嵌置在所述放置槽内，并且所述放置槽顶部设有与所述晶振元件底部配合的密封圈。

优选的，所述检测箱的外侧壁连接设有多个压紧机构，各个所述压紧机构通过压块对所述盖板顶部施加下压力。

优选的，所述压紧机构，包括固定设置在所述检测箱侧壁上的轴座，所述轴座顶部纵置有转轴，所述转轴顶端沿直径方向设有连接臂，所述连接臂的自由端纵向设有贯穿的螺孔，所述螺孔螺纹配合有螺钉，所述压块通过球头配合在所述螺钉底端。