[实用新型]一种引线框架翘曲度测量装置有效
| 申请号： | 202220825170.3 | 申请日： | 2022-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN217134326U | 公开（公告）日： | 2022-08-05 |
| 发明（设计）人： | 徐红波 | 申请（专利权）人： | 宁波港波电子有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/67 | 分类号： | H01L21/67;H01L21/66 |
| 代理公司： | 宁波奇铭知识产权代理事务所(普通合伙) 33473 | 代理人： | 李铭 |
| 地址： | 315113 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 引线 框架 曲度 测量 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种引线框架翘曲度测量装置，包括基板，其特征在于：所述基板后侧中部固定有水平的辅助架，位于所述辅助架上设置有夹持组件，位于所述基板上滑动套接有滑套，位于所述滑套一侧上部固定有测量板，位于所述测量板一侧面由下而上依次印刻有水平的测量刻度线。
2.根据权利要求1所述的一种引线框架翘曲度测量装置，其特征在于：所述夹持组件包括夹臂以及竖直向下固定在所述夹臂一端的硅胶夹持块，夹臂的另一端通过插接在辅助架上部中间位置所开设的凹槽内。
3.根据权利要求2所述的一种引线框架翘曲度测量装置，其特征在于：所述夹臂的端部通过销轴与凹槽活动铰接。
4.根据权利要求3所述的一种引线框架翘曲度测量装置，其特征在于：所述夹臂靠近所述辅助架的一端底部固定有拉簧，拉簧的另一端固定在辅助架的侧壁中部。
5.根据权利要求4所述的一种引线框架翘曲度测量装置，其特征在于：所述辅助架靠近基板的一端上部垂直固定有侧向挡板。
6.根据权利要求1所述的一种引线框架翘曲度测量装置，其特征在于：所述滑套两侧内壁均活动嵌入有三个等距分布的滚珠。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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