[实用新型]一种检测设备有效
申请号: | 202220921513.6 | 申请日: | 2022-04-20 |
公开(公告)号: | CN218057644U | 公开(公告)日: | 2022-12-16 |
发明(设计)人: | 林宜龙;黄水清;唐若芹;张勇;林清岚 | 申请(专利权)人: | 深圳格芯集成电路装备有限公司 |
主分类号: | B65H16/04 | 分类号: | B65H16/04;B65H18/02;B65H18/10;B65H23/26;G01N21/89 |
代理公司: | 深圳高智量知识产权代理有限公司 44851 | 代理人: | 姚启迪 |
地址: | 518000 广东省深圳市坪山区龙田街道*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 设备 | ||
本实用新型提供了一种检测设备,包括机台、第一转盘机构、第二转盘机构、展料机构、检测机构及标记机构;第一转盘机构包括至少两个第一转盘,其用于释放卷带或卷收卷带;第二转盘机构包括至少两个第二转盘,第二转盘与第一转盘一一对应,其用于卷收从第一转盘释放出来的卷带或将卷带释放到第一转盘;展料机构设置在第一转盘机构与第二转盘机构之间,其具有至少两条展料料道,展料料道的一端与一第一转盘对应设置,其另一端与一第二转盘对应设置;检测机构设置在展料料道的上方,用于对展料料道上的卷带进行检测;标记机构设置在展料料道的上方,标记机构包括至少两个标记件,标记件与展料料道一一对应设置,标记件用于对检测后的料带进行标记。
技术领域
本实用新型涉及芯片检测的技术领域,尤其涉及一种检测设备。
背景技术
芯片(简称IC)在编带机上编带形成卷带后,可能会存在卷带的缺料、卷带表面刮伤、芯片的各种表面缺陷、字符打印质量差等缺陷,因此,需要对卷带的外观进行检测以判断是否存在缺陷。
现有技术的检测设备对卷带的检测方式为单条检测,即一次对一条卷带进行检测,检测效率较低,无法满足大批卷带需要检测的要求。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种检测设备,以解决现有技术中检测设备的检测效率低、无法满足大批卷带需要检测的要求的技术问题。
本实用新型提供了一种检测设备,所述检测设备包括:
机台;
第一转盘机构,所述第一转盘机构设置在所述机台上,所述第一转盘机构包括至少两个第一转盘,所述第一转盘用于释放卷带或卷收卷带;
第二转盘机构,所述第二转盘机构设置在所述机台上,所述第二转盘机构包括至少两个第二转盘,所述第二转盘与所述第一转盘一一对应,所述第二转盘用于卷收从所述第一转盘释放出来的卷带或将卷带释放到所述第一转盘;
展料机构,所述展料机构设置在所述第一转盘机构与所述第二转盘机构之间,所述展料机构具有至少两条展料料道,所述展料料道的一端与一所述第一转盘对应设置,所述展料料道的另一端与一所述第二转盘对应设置;
检测机构,所述检测机构设置在所述展料料道的上方,所述检测机构用于对所述展料料道上的卷带进行检测;
标记机构,所述标记机构设置在所述展料料道的上方,所述标记机构包括至少两个标记件,所述标记件与所述展料料道一一对应设置,所述标记件用于对检测后的卷带进行标记。
作为本实用新型的一个实施例,所述检测机构包括第一支架、至少两个第一相机和至少一个第二相机,所述第一支架设置在所述机台上,两个所述第一相机均设置在所述第一支架上并分别对应两条所述展料料道;所述第二相机设置在所述第一支架上并位于两条所述展料料道的中间上方。
作为本实用新型的一个实施例,所述检测机构还包括第一调节杆、调节块以及第二调节杆;
所述第一调节杆设置在所述第一支架上,且所述第一调节杆的长度延伸方向与水平方向平行;所述调节块至少为两个,所述调节块设置在所述第一调节杆上,且所述调节块可沿着所述第一调节杆移动;所述第二调节杆至少为两个,所述第二调节杆一一对应设置在所述调节块上,且所述第二调节杆的延伸方向与竖直方向平行;所述第一相机一一对应设置在所述调节块上,且所述第一相机可沿所述第二调节杆移动。
作为本实用新型的一个实施例,所述检测机构还包括至少两个第一发光件和至少一个第二发光件;所述第一发光件与所述第一相机一一对应设置,以为所述第一相机提高光源;所述第二发光件与所述第二相机对应设置,以为所述第二相机提供光源。
作为本实用新型的一个实施例,所述标记机构还包括第二支架、至少两个第一驱动件、第二驱动件、第一标签轮以及第二标签轮;
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