[实用新型]一种多巴条叠阵激光器光斑质量测试系统

说明书

本申请公开了一种多巴条叠阵激光器光斑质量测试系统，包括CCD相机和依次设置的叠阵组件、透镜组件、接收屏组件，其中，叠阵组件用于安装多巴条叠阵激光器，透镜组件用于放大激光光斑的尺寸，多巴条叠阵激光器发出的激光在慢轴方向经过透镜组件准直后，激光光斑成像于接收屏组件上，且接收屏组件能够反射成像光斑，CCD相机则用于接收激光光斑的反射图像。本申请的光斑质量测试系统可使激光慢轴方向光斑的尺寸实现一定比例的放大，且识别精度高，可同时识别叠阵激光器多个巴条的光斑。

技术领域

本申请涉及激光器技术领域，具体涉及一种多巴条叠阵激光器光斑质量测试系统。

背景技术

半导体激光器凭借着体积小、重量轻、电光效率高、寿命长、价格低等优点，在激光测距、激光雷达、激光通信、激光模拟武器、激光警戒、激光制导跟踪、自动控制以及检测仪器等方面获得了广泛的应用。目前半导体激光器正朝着多巴条、高功率、高可靠性的方向发展。光斑质量是快速验证叠阵激光器封装质量的一种常规手段，目前对于光斑质量的表征最常用方式是经过固定位置的光学系统，光斑进入CCD相机成像，但是这只能测试单个巴条的光斑情况，并且光斑为单一放大比例，测试精度和测试效率都有不少缺陷。

另外，现有技术如CN104865052A号专利申请文本公布的半导体激光器空间光束轮廓的测试方法及装置的技术方案，其缺陷在于:光束在慢轴方向上只能以一定比例放大，不可调节，识别精度低；每次只能测试单个巴条光斑轮廓；无法同时测试多巴条叠阵激光器的光斑。又如CN109186757A号专利申请文本公布的半导体激光器光束质量测试装置及其测试方法的技术方案，其缺陷在于：采用功率计方式测试光束质量，无法细化观察每个发光点的情况；仅试用光纤输出光斑，不试用多巴条叠阵产品。

实用新型内容

针对上述问题，本申请公开了一种多巴条叠阵激光器光斑质量测试系统，以克服上述问题或者至少部分地解决上述问题。

本申请采用的技术方案如下：一种多巴条叠阵激光器光斑质量测试系统，包括CCD相机和依次设置的叠阵组件、透镜组件、接收屏组件，其中，叠阵组件用于安装多巴条叠阵激光器，透镜组件用于放大激光光斑的尺寸，多巴条叠阵激光器发出的激光在慢轴方向经过透镜组件准直后，激光光斑成像于接收屏组件上，且接收屏组件能够反射成像光斑，CCD相机则用于接收激光光斑的反射图像。

优选地，叠阵组件、透镜组件、接收屏组件之间的相对位置能够调整。

优选地，本申请还包括安装平台，透镜组件和接收屏组件设置在该安装平台上，透镜组件和接收屏组件均能够在该安装平台上往复滑动。

优选地，透镜组件包括两个平凸透镜，两个平凸透镜采用凸面朝里，平面朝外且平行的排列设置方式。

优选地，将两个平凸透镜的凸面顶部之间的相对距离保持不变。

优选地，两个平凸透镜的凸面顶部之间的相对距离设置为10㎜。

优选地，安装平台为滑轨，透镜组件和接收屏组件均能够沿着滑轨的轴向往复滑动。

优选地，接收屏组件为感光板。

优选地，CCD相机设置于接收屏组件反射光斑的一侧，根据光斑的质量，能够调整CCD相机的位置。

本申请的优点及有益效果是：通过改变透镜组件的尺寸和焦距可使激光慢轴方向光斑的尺寸实现一定比例的放大，且识别精度高；可同时识别叠阵激光器多个巴条的光斑，有效观察整个叠阵激光器的光斑情况，提高测试效率；通过更改透镜组件和CCD相机的参数，可观察更高层叠阵，面阵的光斑；测试时，只需要移动透镜组件和接收屏组件的位置，即可测试每个发光点，简单方便，便于保存产品整体光斑图像，便于后期追溯。

附图说明