[实用新型]一种集成电路静电击穿可靠性分析测试结构有效

专利信息
申请号: 202221030227.7 申请日: 2022-04-29
公开(公告)号: CN217360192U 公开(公告)日: 2022-09-02
发明(设计)人: 杨婷;王君从;程铁剑;田爱国 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第五十四研究所
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/12;G01R1/04;H01L21/66
代理公司: 北京盛凡佳华专利代理事务所(普通合伙) 11947 代理人: 金福坤
地址: 050081 河*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成电路 静电 击穿 可靠性分析 测试 结构
【权利要求书】:

1.一种集成电路静电击穿可靠性分析测试结构,包括底板(1),其特征在于:所述底板(1)上方四周安装有支撑柱(10),所述支撑柱(10)上方安装有检测座(9),所述检测座(9)内部左侧安装有固定机构(6),所述固定机构(6)上方两侧安装有液压杆(8),所述液压杆(8)上方安装有延伸板(7),所述检测座(9)左侧开设有多个检测口(2)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路静电击穿可靠性分析测试结构,其特征在于:所述固定机构(6)包括电机(601)、安装槽(607)和螺杆(603),所述检测座(9)内部左侧开设有安装槽(607),所述安装槽(607)内部一端安装有电机(601),所述电机(601)动力输出端安装有螺杆(603),所述螺杆(603)外侧连接有螺套(602),所述螺套(602)外侧安装有连接杆(605),且所述液压杆(8)安装在所述连接杆(605)上方两侧。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路静电击穿可靠性分析测试结构,其特征在于:所述安装槽(607)内部上下两侧开设有限位槽(604),所述限位槽(604)内部滑动连接有限位块(606)一端,且所述限位块(606)另一端连接在所述连接杆(605)上下两侧。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路静电击穿可靠性分析测试结构,其特征在于:所述延伸板(7)下方内部开设有弹簧槽(12),所述弹簧槽(12)内部连接有紧固弹簧(11)一端,所述紧固弹簧(11)另一端连接有顶部固定板(5)。

5.根据权利要求2所述的一种集成电路静电击穿可靠性分析测试结构,其特征在于:所述连接杆(605)右侧下方安装有滑块(4),所述检测座(9)内部右侧开设有滑槽(3),且所述滑块(4)滑动连接在所述滑槽(3)内部。

6.根据权利要求2所述的一种集成电路静电击穿可靠性分析测试结构,其特征在于:所述电机(601)的电力输入端与外部电源的电力输出端呈电性连接。

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