[实用新型]一种硅棒测量工具有效

专利信息
申请号: 202221293378.1 申请日: 2022-05-27
公开(公告)号: CN217604861U 公开(公告)日: 2022-10-18
发明(设计)人: 刘效斐;王斌;李耀龙;焦伟萍;李中强;梁山 申请(专利权)人: 内蒙古中环协鑫光伏材料有限公司
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02
代理公司: 天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 12213 代理人: 栾志超
地址: 010070 内蒙古自*** 国省代码: 内蒙古;15
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 工具
【权利要求书】:

1.一种硅棒测量工具,用于测量硅棒棱边倒角处夹角边的尺寸,其特征在于,包括:

基准部,至少构造有两个可搭置硅棒相邻两侧面的基准台,所述基准台交叉设置并围设有空间,以定位硅棒任一倒角的被测位置;

测件,构造有斜面以及导向面,所述斜面与所述导向面的夹角与倒角的角度一致;

所述导向面可沿其中一个所述基准台的内侧壁面滑动以带动所述斜面与倒角坡面接触,待所述斜面完全覆盖到倒角坡面且所述斜面的顶点完全与倒角靠近所述导向面的顶点重叠时,所述导向面与另一个所述基准台的交叉位置的长度即是倒角与所述导向面并行的夹角边的尺寸。

2.根据权利要求1所述的一种硅棒测量工具,其特征在于,两个所述基准台与硅棒侧面接触的一侧为平整面,且其交叉的夹角为360°/N,其中,N为棱线数。

3.根据权利要求1或2所述的一种硅棒测量工具,其特征在于,倒角的角度为45°。

4.根据权利要求3所述的一种硅棒测量工具,其特征在于,当与所述测件测量的倒角夹角边的另一夹角边所在的硅棒侧面上的所述基准台与硅棒面接触的宽度不大于5mm时,所述基准部还包括垂直于所述测件的辅助台,且所述辅助台被构置在沿所述测件测量的倒角夹角边的另一夹角边所在的硅棒侧面的长度方向上并紧贴硅棒的该侧面设置。

5.根据权利要求4所述的一种硅棒测量工具,其特征在于,所述辅助台与所述测件分设于与所述测件测量的倒角夹角边的另一夹角边所在的硅棒侧面上的所述基准台的两侧。

6.根据权利要求3所述的一种硅棒测量工具,其特征在于,当与所述测件测量的倒角夹角边的另一夹角边所在的硅棒侧面上的所述基准台与硅棒面接触的宽度大于5mm时,与所述测件测量的倒角夹角边的另一夹角边所在的硅棒侧面上的所述基准台的宽度不小于所述测件测量的倒角夹角边所在的硅棒侧面上的所述基准台的宽度。

7.根据权利要求6所述的一种硅棒测量工具,其特征在于,两个所述基准台的宽度相同。

8.根据权利要求4-7任一项所述的一种硅棒测量工具,其特征在于,所述基准部还包括垂直于与所述测件测量的倒角夹角边的另一夹角边所在的硅棒侧面上的所述基准台厚度的延长台,所述延长台的高度与所述测件的高度并行设置;

所述延长台的横截面构造为U型结构,所述测件被卡置于所述延长台的内侧壁面。

9.根据权利要求4-7任一项所述的一种硅棒测量工具,其特征在于,与所述测件的导向面接触的所述基准台的横截面为L型结构,且在另一所述基准台与所述测件中与所述导向面相对一侧面接触的位置处还设有限位块。

10.根据权利要求1所述的一种硅棒测量工具,其特征在于,在所述导向面上还构造有刻度。

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