[实用新型]辅助工具以及测试系统有效

专利信息
申请号: 202221317686.3 申请日: 2022-05-25
公开(公告)号: CN217717950U 公开(公告)日: 2022-11-01
发明(设计)人: 谭鑫刚;王玉堂;蔡海军;王康 申请(专利权)人: 亿咖通(湖北)技术有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04;G01C15/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 孙超;臧建明
地址: 430051 湖北省武汉市武汉经济技术开发区神*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 辅助工具 以及 测试 系统
【说明书】:

本申请实施例提供一种辅助工具以及测试系统,包括:固定座,用于安装第一物体;光束发生器,设置于所述固定座,且被配置成朝向第二物体发射光线,所述第一物体的中心在所述第二物体的正投影与所述光线照射在所述第二物体的光束点之间的距离不大于预设距离。本申请提供的辅助工具以及测试系统,操作人员可根据光束点快速得到第一物体与第二物体的位置关系,利于减轻操作人员的测试工作,提高测试效率和准确性。

技术领域

本申请实施例涉及测试技术领域,尤其涉及一种辅助工具以及测试系统。

背景技术

EMC(Electro-Magnetic Compatibility,电磁兼容性)测试指的是对电子产品在电磁场方面干扰大小和抗干扰能力的综合评定。

在相关技术中,在进行EMC测试时,需要操作人员将受测样品放置在测试房间的测试平台上,并在受测样品的受测点的上方架设测试天线。受测样品上存在多个受测点,可改变测试天线的位置,使得测试天线与不同的受测点对应,以得到多组数据。

然而,操作人员常通过人眼观察的方式,判断测试天线是否与受测点正对。这种判断方式存在较大的误差。

实用新型内容

本申请实施例提供一种辅助工具以及测试系统,用以解决测试天线是否与受测点正对的测试方式存在较大的误差的问题。

为实现上述目的,本申请提供了如下技术方案:

本申请实施例的一个方面提供一种辅助工具,包括:固定座,用于安装第一物体;光束发生器,设置于所述固定座,且被配置成朝向第二物体发射光线,所述第一物体的中心在所述第二物体的正投影与所述光线照射在所述第二物体的光束点之间的距离不大于预设距离。

在其中一种可能的实现方式中,所述光束发生器包括测量所述第一物体与第二物体之间的距离差并向用户输出测量结果的红外测距仪。

在其中一种可能的实现方式中,还包括支架以及第一驱动器,所述固定座滑设于所述支架,所述第一驱动器与所述固定座连接,并用于驱动所述固定座在所述支架上沿第一方向往复移动。

在其中一种可能的实现方式中,所述固定座包括第一固定块与第一杆体;所述第一固定块滑设于所述支架;所述第一杆体沿垂直于所述第一方向的第二方向延伸,且穿设于所述第一固定块;所述第一物体安装在所述第一杆体远离所述第一固定块的一端;所述第一固定块穿设有第一锁定件,所述第一锁定件与所述第一固定块螺纹连接,且被配置成与所述第一杆体抵紧,以锁定所述第一杆体与所述第一固定块之间的相对位置。

在其中一种可能的实现方式中,所述固定座还包括第二固定块与第二杆体;所述第一杆体远离所述第一固定块的一端穿设于所述第二固定块;所述第二杆体沿所述第一方向延伸并穿设于所述第二固定块;所述第一物体安装在所述第二杆体穿出所述第二固定块的一端;所述第二固定块穿设有第二锁定件以及第三锁定件,所述第二锁定件与所述第三锁定件均与所述第二固定块螺纹连接,所述第二锁定件被配置成与所述第一杆体抵紧,以锁定所述第一杆体与所述第二固定块之间的相对位置;所述第三锁定件被配置成与所述第二杆体抵紧,以锁定所述第二杆体与所述第二固定块之间的相对位置。

在其中一种可能的实现方式中,所述支架的底端设有第二驱动器以及第一滚轮组件,所述第二驱动器与所述第一滚轮组件连接,且用于驱动所述第一滚轮组件运动。

在其中一种可能的实现方式中,所述第一滚轮组件包括第一支撑座与第一滚轮,所述第一支撑座设置于所述支架,所述第一滚轮通过滚轴可转动地设置于第一支撑座;所述第二驱动器包括转动电机,所述转动电机设置于所述第一支撑座或者所述支架,所述转动电机的电机轴与所述滚轴连接且用于带动所述滚轴转动。

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