[实用新型]一种新型的集成电路测试设备

权利要求书

1.一种新型的集成电路测试设备，所述集成电路测试设备的线路板上设有MCU，所述MCU的管脚经过过压、限流接口保护电路、目标板电源泄放电路及目标板电源供给电路经目标板接口连接到目标板，其特征在于，所述过压、限流接口保护电路具体包括：对于每一条目标板接口线(661)，经过TVS_ESD二极管(662)、第一串联限流电阻(663)、第一ESD保护二极管(664)、第二ESD保护二极管(665)、第二串联限流电阻(666)后，接到MCU(601)的管脚(667)，第二ESD保护二极管(665)朝向地线，第一ESD保护二极管(664)朝向一个VCCT_F钳位电压(668)的电压节点,电容器(669)接在VCCT_F钳位电压(668)节点上用于提供ESD保护作用；VCCT_F钳位电压(668)经过第一电阻(672)接到VCCT目标板电源电压(671)，用于在电容器(669)上维持一个缺省的电压，提供ESD保护；第二串联限流电阻(666)、第一ESD保护二极管(664)、VCCT_F钳位电压(668)结合起来，实现限流电阻_二极管钳位电平匹配结构。

2.根据权利要求1所述的新型的集成电路测试设备，其特征在于，还包括VCCT目标板电源电压(671)经第三ESD保护二极管(681)和第二电阻(682)接地，VCCT_F钳位电压(668)连接在第三ESD保护二极管(681)和第二电阻(682)的中点。

3.根据权利要求1所述的新型的集成电路测试设备，其特征在于，还包括所述VCCT_F钳位电压(668)经VCCT_F控制接口线(673)引出，使得外接电路对VCCT_F钳位电压(668)的电压值进行钳位。

4.根据权利要求1所述的新型的集成电路测试设备，其特征在于，还包括上拉电阻(651)、下拉电阻(652)，通过第一串联限流电阻(663)、第二串联限流电阻(666)、上拉电阻(651)、下拉电阻(652)的安装与否、阻值选择的组合，以实现OC上拉电平匹配结构、分压电阻电平匹配结构、限流电阻匹配结构。

5.根据权利要求1所述的新型的集成电路测试设备，其特征在于，所述集成电路测试设备的线路板上设置为叠合放置的100Pin或48Pin的MCU。

6.根据权利要求1所述的新型的集成电路测试设备，其特征在于，所述MCU通过SPI接口分别连接显示屏及外接存储器。

7.根据权利要求1所述的新型的集成电路测试设备，其特征在于，所述MCU通过SDIO接口连接外接存储器TF内存卡。

8.根据权利要求1所述的新型的集成电路测试设备，其特征在于，还包括分别为显示屏、外接存储器、外接存储器TF内存卡供电的外设稳压供电单元。

9.根据权利要求1所述的新型的集成电路测试设备，其特征在于，所述MCU的管脚经过ATE接口与自动烧录机台连接通信。

10.根据权利要求1所述的新型的集成电路测试设备，其特征在于，还包括经MCU管脚驱动连接的蜂鸣器。