[实用新型]推拉力测试用紧固夹具

说明书

本实用新型公开了一种推拉力测试用紧固夹具，包括夹具本体以及夹板，夹板设置在夹具主体上，在第一方向上，所述夹具本体与所述夹板之间形成有用于固定芯片基板的容置空间，所述容置空间的顶部具有可供芯片基板露出的开口；紧固组件，用于将所述夹板固定在夹具本体的选定位置处，而使所述容置空间于第一方向上的宽度可调；调节组件，包括调节板和驱动机构，能够在所述驱动机构的驱使下沿第二方向运动，而使所述调节板与所述容置空间的开口之间的距离可调。本实用新型实施例提供的一种推拉力测试用紧固夹具，不仅能够对芯片基板进行夹持，便于其直接进行检测，同时此种夹具可灵活调整，适配性高，操作简单。

技术领域

本实用新型涉及一种夹具，特别涉及一种推拉力测试用紧固夹具，属于半导体手动作业工具技术领域。

背景技术

近年来，随着光电技术，电子技术在半导体行业的迅速发展，探测器技术在不同领域中得到越来越多、越来越广泛的应用。检验探测器推拉力是否合格是描述器件的关键参数，推拉力值与器件材料、表面金属蒸镀有关。目前对探测器的测试能力大多集中在封装后的模块端，对于芯片制造端的测试鲜有提及。

对于芯片基板的常规测试，需将其封装成TO模块，从而进行测试，不仅无法实现对芯片基板的直接测试，且封装操作较为繁琐，致使测试工序工时较长。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种推拉力测试用紧固夹具，用以解决芯片基板无法直接测试的问题。

为实现前述实用新型目的，本实用新型采用的技术方案包括：

本实用新型实施例提供了一种推拉力测试用紧固夹具，包括夹具本体；

夹板，设置在夹具本体上，在第一方向上，所述夹具本体与所述夹板之间形成有用于固定芯片基板的容置空间，所述容置空间的顶部具有可供芯片基板露出的开口；

紧固组件，用于将所述夹板固定在夹具本体的选定位置处，而使所述容置空间于第一方向上的宽度可调；

调节组件，包括调节板和驱动机构，所述调节板设置在所述容置空间并用于承载芯片基板，所述调节板与驱动机构传动连接，并能够在所述驱动机构的驱使下沿第二方向运动，而使所述调节板与所述容置空间的开口之间的距离可调，所述第一方向与第二方向交叉设置。

与现有技术相比，本实用新型的优点包括：本实用新型实施例提供的一种推拉力测试用紧固夹具，不仅能够对芯片基板进行夹持，从而便于其直接进行检测，同时此种夹具可灵活调整，适配性高，操作简单。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型一典型实施案例中提供的一种推拉力测试用紧固夹具的结构示意图；

图2是图1中A处的放大图；

图3是沿图2中B-B线的剖面示意图

附图标记说明：

1、夹具本体；11、限位槽；12、第一倒角；

2、夹板；21、第二倒角；

3、紧固组件；31、紧固件；

4、调节组件；41、调节板；411、活拆板；42、蜗杆；431、蜗轮；432、丝杠；

5、平推组件；51、安装板；52、传动杆。

具体实施方式