[实用新型]能提高被动散热的硅基扇出型三维立体集成封装结构有效

专利信息
申请号: 202221471557.X 申请日: 2022-06-14
公开(公告)号: CN217691145U 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: 夏晨辉;周超杰;李奇哲;王刚 申请(专利权)人: 无锡中微高科电子有限公司
主分类号: H01L23/367 分类号: H01L23/367;H01L23/373;H01L21/50
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 涂三民;殷红梅
地址: 214000 江苏省无锡市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 提高 被动 散热 硅基扇出型 三维立体 集成 封装 结构
【权利要求书】:

1.一种能提高被动散热的硅基扇出型三维立体集成封装结构,包括第二硅晶圆(201),其特征是:在第二硅晶圆(201)的正面设有第二再布线层(206)并刻蚀有第二空腔(203),在第二再布线层(206)的球下金属层处植有第二焊球(212),在第二空腔(203)内通过第二DAF膜(204)水平贴装有第二芯片(205),第二芯片(205)、第二再布线层(206)与第二焊球(212)呈电性连接;

在第二硅晶圆(201)的背面设有第三再布线层(209)并刻蚀有第三空腔(210),在第三空腔(210)内通过第三DAF膜(211)垂直贴装有封装单体(107),封装单体(107)的上段露出第三空腔(210);所述封装单体(107)包括第一硅晶圆(101),在第一硅晶圆(101)的正面所刻蚀出的第一空腔(102),在第一空腔(102)内通过第一DAF膜(103)水平贴装的第一芯片(104),在第一硅晶圆(101)正面设置的第一再布线层(105),在第一再布线层(105)的球下金属层处所植的第一焊球(106);所述第一芯片(104)、第一再布线层(105)、第一焊球(106)与第三再布线层(209)呈电性连接;

在第二硅晶圆(201)内设有TSV通孔(202),所述第三再布线层(209)通过TSV通孔(202)与第二再布线层(206)电性连接。

2.如权利要求1所述的能提高被动散热的硅基扇出型三维立体集成封装结构,其特征是:所述第一硅晶圆(101)与第二硅晶圆(201)的尺寸为6英寸、8英寸或12英寸,所述第一空腔(102)与第二空腔(203)的深度均为55~720um。

3.如权利要求1所述的能提高被动散热的硅基扇出型三维立体集成封装结构,其特征是:所述第一DAF膜(103)、第二DAF膜(204)与第三DAF膜(211)的厚度均为5~100um。

4.如权利要求1所述的能提高被动散热的硅基扇出型三维立体集成封装结构,其特征是:所述TSV通孔(202)的直径为5~300um。

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