[实用新型]一种防呆的DB连接器

说明书

本实用新型公开了一种防呆的DB连接器，包括DB公头连接件和DB母头连接件，所述DB公头连接件包括公头壳、公头连接柱、DB公头，所述公头壳上开设有两个以上的公头通道，所述公头连接柱设置于公头通道内，且所述公头连接柱通过公头伸缩机构与通道连接；所述DB母头连接件包括母头壳、母头连接柱、DB母头，所述母头壳上开设有两个以上的母头通道，所述母头连接柱设置于母头通道内，且所述母头连接柱通过母头伸缩机构与通道连接；所述DB母头与DB公头的形状相匹配。本实用新型减少了测试设备之间线缆的生产数量和加工难度，成本低廉，安全系数提高，快速高效；通用性提高、装配方便易操作。

技术领域

本实用新型涉及一种防呆的DB连接器，属于半导体测试测试技术领域。

背景技术

D-sub连接器作为工业标准型连接器，应用广泛，D-sub附件的差异仅仅在于连接器的针数，现有DB头连接器按公母头可分DB公头连接器，DB母头连接器，其中同PIN数的DB公头连接器由公头外壳1+DB公头3构成,DB母头连接器由母头外壳5+DB母头6构成，同PIN数的DB公头3和DB母头6就可以直接对插进行连接，但他们的外壳(公头外壳1、母头外壳5)都是一样的，只起到外壳保护的作用。

在半导体测试设备领域，通常一台测试设备可配数个相同的测试盒进行多site测试，在测试机跟测试盒连接中需要用到DB头进行连接传输，在DB头针数相同的情况下，不同测试盒之间的DB头都可以互插，如果插错容易烧坏测试盒或者设备，这个时候原本的同针数公母DB头直接对插连接模式，就会出现漏洞。

原先的测试线缆只能通过DB插头每个PIN之间线束的定义来区分线缆的对应接口，在客户端不能做到有效的区分，容易造成线缆插错的风险，导致对应板卡短路烧毁的风险。

每一根线缆外观没有区别，只有内部的DB插头端的线束定义不一样，无法做到有效防呆。

在实际测试过程中，因插错线缆易造成板卡内部之间的短路，给使用企业增加了上电测试前确认的时间，甚至造成设备板卡的损坏。

实用新型内容

实用新型目的：为了克服现有技术中存在的不足，本实用新型提供一种防呆的DB连接器，在同针数DB公母头对插不变的前提下针对相应DB外壳设计一种兼顾外壳保护与防呆的新型结构，通过外壳结构上的防呆装置设定及组合达到线束防呆功能从而防止误插损坏设备。

技术方案：为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为：

一种防呆的DB连接器，包括DB公头连接件和DB母头连接件，其中：

所述DB公头连接件包括公头壳、公头连接柱、DB公头，所述公头壳上开设有两个以上的公头通道，所述公头连接柱设置于公头通道内，且所述公头连接柱通过公头伸缩机构与通道连接，所述DB公头设置于公头连接柱上，当所述公头伸缩机构伸缩到第一极限位置时，所述DB公头位于公头通道内。当所述公头伸缩机构伸缩到第二极限位置时，所述DB公头位于公头通道外。

所述DB母头连接件包括母头壳、母头连接柱、DB母头，所述母头壳上开设有两个以上的母头通道，所述母头连接柱设置于母头通道内，且所述母头连接柱通过母头伸缩机构与通道连接，所述DB母头设置于母头连接柱上，当所述母头伸缩机构伸缩到第三极限位置时，所述DB母头位于母头通道内。当所述母头伸缩机构伸缩到第四极限位置时，所述DB母头位于母头通道外。

所述DB母头与DB公头的形状相匹配。

优选的：所述公头伸缩机构包括旋转头一，所述旋转头一安装在公头连接柱上，且所述旋转头一位于远离公头连接柱上连接DB公头的一端上。所述公头连接柱的外表面设置有外螺纹一，所述公头通道设置有内螺纹一，所述内螺纹一与外螺纹一相匹配。