[实用新型]痕量汞检测装置有效

专利信息
申请号: 202221594748.5 申请日: 2022-06-23
公开(公告)号: CN217586920U 公开(公告)日: 2022-10-14
发明(设计)人: 邵涛;鲁明;雷文敬;张可欣 申请(专利权)人: 天津众晟仪器有限公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 北京庚致知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11807 代理人: 金哲民
地址: 300380 天津市西青区张家窝*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 痕量 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种痕量汞检测装置,其特征在于,包括:

汞灯,所述汞灯用于发出激发光;

流通池,所述流通池内流动待检测的样品,所述汞灯发出的激发光照射至流通池的待检测的样品;以及

光电倍增管,所述光电倍增管设置于所述流通池的侧部,以接收待检测的样品在激发光的激发下所产生的共振荧光;

其中,所述汞灯与所述流通池之间设置有可调节焦距的透镜;所述流通池与光电倍增管之间设置有滤光片。

2.如权利要求1所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述汞灯被光源支架所保持。

3.如权利要求2所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述光源支架沿其长度方向形成有孔,所述汞灯设置于所述光源支架的孔内。

4.如权利要求3所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述光源支架的侧壁开设有螺纹孔,所述螺纹孔与所述孔连通,通过拧入所述螺纹孔的螺钉,将所述汞灯与所述光源支架固定。

5.如权利要求3所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述光源支架的侧壁开设有出光口,所述汞灯所发出的激发光经过反射后,从所述出光口发出。

6.如权利要求3所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述光源支架的至少一个侧壁设置有加热装置。

7.如权利要求6所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述加热装置的外部设置有保温层。

8.如权利要求3所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述光源支架还设置有温度传感器。

9.如权利要求2所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述光源支架上设置有透镜支架,所述透镜支架能够固定可调节焦距的透镜。

10.如权利要求9所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述透镜支架远离所述光源支架的一端形成有通孔,所述透镜设置于所述透镜支架的通孔处,并且通过透镜压板将透镜和透镜支架相固定。

11.如权利要求2所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述透镜和流通池之间设置有第一遮挡板,所述第一遮挡板设置有狭缝,经过透镜的激发光通过所述第一遮挡板的狭缝照射至所述流通池。

12.如权利要求1所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述流通池被固定支架所保持。

13.如权利要求12所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述固定支架内部形成容纳空间,所述流通池设置于所述固定支架的容纳空间内;其中,所述固定支架的一个侧壁形成有第一缝隙;所述固定支架的另一个侧壁形成有第二缝隙,所述一个侧壁和另一个侧壁相邻;激发光通过第一缝隙照射至所述流通池,所述共振荧光通过第二缝隙被所述光电倍增管所接收。

14.如权利要求13所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述第一缝隙、第二缝隙和狭缝的长度方向均为竖直方向。

15.如权利要求13所述的痕量汞检测装置,其特征在于,还包括上盖板和下盖板,所述上盖板设置于所述固定支架的上部,并覆盖所述固定支架的上部开口,所述下盖板设置于所述固定支架的下端,并覆盖所述固定支架的下部开口,其中,所述流通池的进液口穿过所述下盖板,所述流通池的出液口穿过所述上盖板。

16.如权利要求15所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述上盖板设置有紫外光电二极管。

17.如权利要求13所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述固定支架设置有第二遮挡板,所述第二遮挡板形成有狭缝,所述第二遮挡板的狭缝与所述第一缝隙对应,所述汞灯所发出的激发光穿过所述第二遮挡板的狭缝后,再通过第一缝隙照射入流通池。

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