[实用新型]二极管测试片和二极管测试装置有效

专利信息
申请号: 202221616277.3 申请日: 2022-06-24
公开(公告)号: CN218099256U 公开(公告)日: 2022-12-20
发明(设计)人: 万鑫;王玉桃 申请(专利权)人: 常州银河世纪微电子股份有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/26
代理公司: 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 代理人: 陈红桥
地址: 213033 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 二极管 测试 装置
【说明书】:

实用新型提供一种二极管测试片和二极管测试装置,二极管测试片包括主片体和L型接触件,所述主片体长度方向的两端分别为接线端和接触端,所述接线端开设有接线孔,所述L型接触件设置于所述接触端,形成所述主片体上面的凸起结构,所述L型接触件包括横段和竖段,所述横段的底面与所述主片体的上面相接,所述竖段的外侧面与所述接触端的端部边缘平齐,所述竖段的顶面作为二极管引脚的接触面。本实用新型能够提高二极管的电性能测试效果。

技术领域

本实用新型涉及器件电性能测试技术领域,具体涉及一种二极管测试片和一种二极管测试装置。

背景技术

二极管在封装后进行电性能测试是一道非常关键的工序,电性能测试包括二极管的耐压测试、电流测试等,而在测试过程中测试片的设计好坏不直接会影响到测试结果。

目前的测试片的设计大多考虑到了开尔文设计,开尔文的测试架构如图1所示,两组共四个测试片安装于测试台上,将二极管引脚搭接于两组测试片之间便可实现二极管的电性能测试。然而,由于一些二极管在封装后,引脚周边会存在黑胶,这样在引脚搭接到测试片平面时,可能会存在接触不良甚至接触失败的情况,这无疑会影响测试效果,增加误踢率。

实用新型内容

本实用新型为解决上述技术问题,提供了一种二极管测试片和二极管测试装置,能够提高二极管的电性能测试效果。

本实用新型采用的技术方案如下:

一种二极管测试片,包括主片体和L型接触件,所述主片体长度方向的两端分别为接线端和接触端,所述接线端开设有接线孔,所述L型接触件设置于所述接触端,形成所述主片体上面的凸起结构,所述L型接触件包括横段和竖段,所述横段的底面与所述主片体的上面相接,所述竖段的外侧面与所述接触端的端部边缘平齐,所述竖段的顶面作为二极管引脚的接触面。

所述接触端在所述主片体宽度方向的一侧开设矩形缺口,所述横段朝向所述主片体宽度方向的一侧的侧面与所述矩形缺口沿所述主片体长度方向的边缘平齐。

所述接触端在所述主片体宽度方向的另一侧开设倒角。

所述主片体还开设有安装孔。

所述竖段的顶部朝向所述主片体宽度方向的一侧开设矩形缺口。

所述主片体采用铍铜材料,所述L型接触件采用钨铜材料。

一种二极管测试装置,包括:测试台;四个上述的二极管测试片,四个所述二极管测试片均固定安装于所述测试台上,其中,四个所述二极管测试片的L型接触件均位于二极管放置区域,且第一个二极管测试片与第二个二极管测试片关于二极管放置区域的纵向中轴线对称,第三个二极管测试片与第一个二极管测试片关于二极管放置区域的横向中轴线对称,第四个二极管测试片与第二个二极管测试片关于二极管放置区域的横向中轴线对称。

本实用新型的有益效果:

本实用新型通过在接触端设置L型接触件,使二极管引脚中部能够接触到L型接触件竖段的顶面,避免了因二极管引脚周边存在黑胶而导致引脚与整片平面接触失败或接触不良的情况,从而能够提高二极管的电性能测试效果。

附图说明

图1为相关技术中的二极管片及其应用场景示意图;

图2为本实用新型一个实施例的二极管测试片的俯视图;

图3为本实用新型一个实施例的二极管测试片的主视图;

图4为本实用新型另一个实施例的二极管测试片的俯视图;

图5为本实用新型另一个实施例的二极管测试片的主视图;

图6为本实用新型一个实施例的二极管测试装置的结构示意图。

具体实施方式

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