[实用新型]自动校正产品测试位移装置有效

专利信息
申请号: 202221644629.6 申请日: 2022-06-28
公开(公告)号: CN217739263U 公开(公告)日: 2022-11-04
发明(设计)人: 陈国斌 申请(专利权)人: 广东合科泰实业有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/26
代理公司: 日照市聚信创腾知识产权代理事务所(普通合伙) 37319 代理人: 申萍
地址: 523000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 自动 校正 产品 测试 位移 装置
【说明书】:

本实用新型提供自动校正产品测试位移装置,涉及测试位移装置技术领域,以解决在原有的自动校正产品测试位移装置无法把出现较大的角度偏移或左右偏移时的产品进行完全矫正,导致产品下到测试位测试时产生接触不良的现象,且在产品离开测试位后,还会加重产品的偏移情况,从而导致后续打标盘的卡料故障的问题,包括测试座,导向块,所述导向块安装在测试座的居中内侧;左固定板,所述左固定板安装在测试座的左侧上端;右固定板,所述右固定板安装在测试座的右侧上端。本实用新型中由于安装的测试底座结构均可活动,使测试时能够接触良好,降低测试接触不良率。

技术领域

本实用新型涉及测试位移装置技术领域,更具体地说,特别涉及自动校正产品测试位移装置。

背景技术

随着半导体封装技术的飞速发展,对封装生产效率与设备利用率提出了更高要求,并且在半导体封装后道测试工序中更是不可或缺的一环,所以需要使用自动校正产品测试位移装置,对品质把控、提高生产效率具有明显效果。

在自动校正产品测试位移装置使用时,由于原有的自动校正产品测试位移装置只有小部分的结构可以活动,但是当产品出现较大的角度偏移或左右偏移时,原有的自动校正产品测试位移装置无法把产品完全进行矫正,导致产品下到测试位测试时产生接触不良的现象,并在产品离开测试位后会加重产品的偏移情况,从而导致后续打标盘的卡料故障。

于是,有鉴于此,针对现有的结构及缺失予以研究改良,提供自动校正产品测试位移装置,以期达到更具有更加实用价值性的目的。

发明内容

为了解决上述技术问题,本实用新型提供自动校正产品测试位移装置,以解决在原有的自动校正产品测试位移装置无法把出现较大的角度偏移或左右偏移时的产品进行完全矫正,导致产品下到测试位测试时产生接触不良的现象,且在产品离开测试位后,还会加重产品的偏移情况,从而导致后续打标盘的卡料故障的问题。

本实用自动校正产品测试位移装置的目的与功效,由以下具体技术手段所达成:

自动校正产品测试位移装置,包括测试座,导向块,所述导向块安装在测试座的居中内侧;左固定板,所述左固定板安装在测试座的左侧上端;右固定板,所述右固定板安装在测试座的右侧上端;限位杆,四个所述限位杆分别竖向贯穿安装在左固定板和右固定板的结构内侧。

进一步的,所述测试座包括,固定杆,四个所述固定杆分别安装在测试座的内侧端面上;定位孔,四个所述定位孔开设在测试座的内侧端面上;所述左固定板包括,左夹杆,所述左夹杆横向贯穿安装在左固定板的结构内侧;所述右固定板包括,右夹杆,所述右夹杆横向贯穿安装在右固定板的结构内侧;所述右夹杆和左夹杆的内侧顶端分别对应安装在导向块的左右两侧;一组所述限位杆分别对应安装在一组定位孔中。

与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果:

1、本实用新型由于安装的测试底座结构均可活动,实现装置自动校正产品位置的操作,使测试时能够接触良好,降低测试接触不良率,同时校正测试后升起时产生的位移,从而减少后续工站由于产品位置偏移而导致的设备故障,提高设备的利用率。

本实用新型的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现,部分还将通过对本实用新型的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。

附图说明

图1是本实用新型的左前上方轴视结构示意图。

图2是本实用新型的右前上方轴视结构示意图。

图3是本实用新型的测试座和导向块部分轴视结构示意图。

图4是本实用新型的左固定板和限位杆部分轴视结构示意图。

图5是本实用新型的右固定板和限位杆部分轴视结构示意图。

图中,部件名称与附图编号的对应关系为:

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