[实用新型]一种复合阵列式扫查器

说明书

本实用新型涉及一种复合阵列式扫查器，包括外壳和多个探头，各个探头均可拆卸安装在外壳的下表面，其特征在于：所述多个探头包括自前至后依次设置的第一探头、第二探头、第三探头、第四探头、第五探头、第六探头和第七探头；其中，第四探头为单晶片K0探头、其他探头均为双晶片K1探头；第一探头、第二探头的两个晶片均包括处于前侧的可发可收晶片和处于后侧的单发射晶片，第四探头的晶片为可发可收晶片，其他探头的两个晶片均为单接收晶片。这种复合阵列式扫查器能够对钢轨焊缝及热影响区轨墙部分的各种缺陷进行扫查，扫查类型多、精度高，具有更好的综合扫查检测能力。

技术领域

本实用新型涉及钢轨探伤技术领域，尤其涉及一种复合阵列式扫查器。

背景技术

目前，钢轨焊缝探伤主要通过手持扫查器进行，主要原理是利用两个单晶片探头一前一后放置在一个钢轨踏面上，并使两个探头作相向或背向等速移动，此时距离焊缝近侧的探头发射超声波，距离钢轨焊缝远侧的探头接收超声波，当钢轨焊缝中存在平面状缺陷时，探头发出的超声波经缺陷和钢轨底面两次反射后被另一探头接收。

为了提高检测效率和检测范围，一些扫查器会对其探头进行组合改进。比如，中国专利文件CN205396126U公开了一种钢轨焊缝扫查装置，这种钢轨焊缝扫查装置通过一个K0探头和六个K0.8探头自前向后设置形成复合串列式探头阵列，能够实现对钢轨实现全断面扫查，以及对轨腰部位垂直、水平和倾斜的缺陷进行扫查，形成19个扫查分区（见上述专利文件说明书附图3）。但是，目前钢轨焊缝缺陷的扫查精度要求提高，要求扫查器的扫查类型更多、扫查范围更广、扫查精度更高，因此，需要一种能够满足前述要求的新型扫查器。

实用新型内容

本实用新型所要解决的问题是提供一种复合阵列式扫查器，这种复合阵列式扫查器能够对钢轨焊缝及热影响区轨墙部分的各种缺陷进行扫查，扫查类型多、精度高，具有更好的综合扫查检测能力。采用的技术方案如下：

一种复合阵列式扫查器，包括外壳和多个探头，各个探头均可拆卸安装在外壳的下表面，其特征在于：所述多个探头包括自前至后依次设置的第一探头、第二探头、第三探头、第四探头、第五探头、第六探头和第七探头；其中，第四探头为单晶片K0探头、其他探头均为双晶片K1探头；第一探头、第二探头的两个晶片均包括处于前侧的可发可收晶片和处于后侧的单发射晶片，第四探头的晶片为可发可收晶片，其他探头的两个晶片均为单接收晶片。

本实用新型复合阵列式扫查器中，第一探头后侧的单发射晶片、第二探头的两个晶片，以及具有第三探头、第五探头、第六探头、第七探头总共八个单接收晶片，如图6所示，按照不同的收发组合，能够将轨墙（如图5所示）断面进一步细划分成26个区域，进行26种收发组合的串列式K型扫查，具有更高的扫查精度（扫查精度高达6.77mm），实现对钢轨轨墙的垂直类缺陷进行全断面连续扫查检测。

另外，第一探头、第二探头的可发可收晶片能够对轨墙的斜裂纹以及体积状、点状缺陷进行扫查检测；第四探头的0°单晶片K0探头为自发自收，能够对轨墙的水平类缺陷进行扫查检测；第一探头处于前侧的可发可收晶片和第七探头处于前侧的单接收晶片能够对轨底缺陷进行穿透检测。

作为本实用新型的优选方案，所述外壳包括壳体以及盖合在壳体上的顶盖，顶盖上设有供探头线集中出线的出线孔，壳体内部设有水平的探头锁紧板，探头锁紧板自前至后设有与多个所述探头一一对应的锁紧位；锁紧位包括多个与探头的晶片一一对应的第一通孔、以及多个供探头支杆一一对应穿过的第二通孔，探头支杆的上部设有螺纹段，探头支杆的上部通过锁紧螺母锁紧在第二通孔处。探头晶片对应的探头线穿过第一通孔后进行收束，至顶盖上的出线口出线连接相应仪器。探头支杆通过锁紧螺母固定在对应的第二通孔处，组装、拆卸或更换探头时只需拧紧或松开锁紧螺母即可，十分方便。

上述顶盖上通常还设有提手，方便手持扫查器进行作业。

上述壳体的外侧面上一般还设有用于标示各个探头的位置和收发指示的序号标示。