[实用新型]一种圆形晶圆片结构有效
申请号: | 202221674682.0 | 申请日: | 2022-06-30 |
公开(公告)号: | CN218585952U | 公开(公告)日: | 2023-03-07 |
发明(设计)人: | 申中国;杨怀科;曹春政 | 申请(专利权)人: | 升新高科技(南京)有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L23/488;H01L21/60 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 许振新 |
地址: | 210000 江苏省南京市江苏自贸*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 圆形 晶圆片 结构 | ||
本申请公开了一种圆形晶圆片结构,所述圆形晶圆片结构上排布有圆形晶粒阵列,所述圆形晶粒阵列包括N个单体的方形晶粒和S个单体的假晶粒,所述圆形晶粒阵列间存在横向和纵向的路径,所述圆形晶粒阵列经由塑封材料塑封固定,所述圆形晶粒阵列的晶粒上均有凸块。
技术领域
本申请涉及半导体制造领域,尤其涉及一种圆形晶圆片结构。
背景技术
随着芯片开发的速度越来越快、迭代周期变得越来越短。芯片从设计,功能验证到工程实现的方式变得更加多样化和复杂化,为了使芯片技术的实现顺应快速增长的市场需求,必须适应各种复杂应用和生产制造情景。
目前芯片的凸块制备工艺流程往往是通过在晶圆(英文:wafer)的制备凸块(bump)的工艺技术,在晶圆上的顶层金属(英文:Top Metal)焊盘上制备出bump,然后通过倒装芯片(英文:Flip chip)封装工艺实现芯片和基板bump焊盘的电性互连,采用Flipchip技术可以减少芯片与基板之间的工作阻抗和信号传输路径,是目前主流的封装技术之一。
图1示出了现有技术在晶圆上制备bump,并进一步进行晶圆切割(英文:Sawing),从而得到晶粒(英文:die)。具体地,现有技术采用晶圆整片bump作业方式,通过溅镀(英文:Sputter)工艺在整片晶圆表面生成电镀种子层,然后通过曝光、显影、蚀刻等电路图形加工技术加工出凸点下金属层(英文:Under bump Metallurgy,简写:UBM),最后在UBM上进行bump电镀和bump回流焊(英文:reflow)等工序,完成bump制备的晶圆在后段封装工序进行划片、切割和Flip chip技术,从而实现芯片和基板bump焊盘的互连。
现有晶圆bump工艺技术,由于目前的生产制造商只能够提供圆形晶圆的凸块加工设备,因此都是在整片wafer下进行bump加工作业,无法对单颗芯片或者多颗芯片组成的方形晶圆片(Reticle die)进行bump的制备。
2020年开始,芯片开发的成本因素和生产环境变得更加艰难,为了顺应快速迭代的市场需求,必须在产品设计开发阶段布局规划,缩短产品开发的生命周期。因此,更多的芯片设计公司开始使用多项目晶圆投片MPW(Multi Project Wafer)进行芯片开发。随着晶圆需求的增长,单一公司的MPW已经不能满足时间、成本的要求,更多的公司加入到拼单生产的队伍,各设计公司最后回片的芯片就是已经在晶圆厂FAB完成切割的非标准尺寸的方形晶圆片(Reticle Die),由此产生了晶圆片(Reticle Die)的bumping需求和当前主流bumping工艺技术仅接受圆形晶圆片之间的工艺技术兼容性问题,bump的加工问题凸显。
因此,亟需一种圆形晶圆片结构,该圆形晶圆片包括多个方形晶粒,解决现有技术无法对单颗芯片或者多颗芯片组成的方形晶圆片进行bump制备的技术问题。
实用新型内容
本申请公开了一种方形晶粒的凸块制备方法及圆形晶圆片结构,解决现有技术无法对单颗芯片或者多颗芯片组成的方形晶圆片进行bump制备的技术问题。
第一方面,提供一种方形晶粒的凸块制备方法,包括:将方形晶圆片切割为N个方形晶粒;将所述N个方形晶粒和S个假晶粒排布于圆形载具,形成圆形晶粒阵列,所述圆形晶粒阵列间存在横向和纵向的切割路径,其中,N为正整数,S为整数;将排布于所述圆形载具的所述圆形晶粒阵列进行塑封固定,去除所述圆形载具,得到塑封圆形晶粒阵列结构;使用形晶圆的凸块加工设备,对所述塑封圆形晶粒阵列上表面制备凸块。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造