[实用新型]一种电阻测量设备有效
申请号: | 202221734938.2 | 申请日: | 2022-07-07 |
公开(公告)号: | CN218584883U | 公开(公告)日: | 2023-03-07 |
发明(设计)人: | 尧磊;李慧萍;余海君 | 申请(专利权)人: | 川源科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02;G01R1/02 |
代理公司: | 北京云嘉湃富知识产权代理有限公司 11678 | 代理人: | 王荃 |
地址: | 215151 江苏省苏州市高新*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电阻 测量 设备 | ||
本实用新型提供一种电阻测量设备,包括机架;电阻测试设备主体,所述电阻测试设备主体设置于所述机架上;下探头,所述下探头设置于所述机架上且与所述电阻测试设备主体电性连接;能够测量导电载体与导电载体一端面的被测材料层的电阻总值、导电载体与导电载体另一端面的被测材料层的电阻总值,有利于剔除两端面被测材料层的电阻不相等的导电材料。
技术领域
本实用新型涉及电阻测量设备技术领域,具体涉及一种电阻测量设备。
背景技术
导电材料如附图1所示,导电材料1包括具有汇集电流作用的导电载体11、分别设置于所述导电载体11两端面的被测材料层12。
目前对导电材料的电阻的测量主要是通过两探针或四探针的方法测量。采用两探针法测量时,端子置于导电材料两端面,通过输入交流电压信号,采集导电材料两端的电流,从而得到导电材料电阻,通过换算关系得到导电材料电阻率;采用四探针法测量时,四根探针置于导电材料表面,通过输入直流信号,采集探针间的电压信号,通过换算关系得到导电材料电阻率。
虽然能够测量导电材料的电阻,但无法测量导电载体与导电载体一端面的被测材料层的电阻总值、导电载体与导电载体另一端面的被测材料层的电阻总值,不利于剔除两端面被测材料层的电阻不相等的导电材料。
发明内容
本实用新型的目的在于针对现有技术的缺陷和不足,提供一种电阻测量设备。
为实现上述目的,本实用新型采用以下技术方案是:
一种电阻测量设备,
包括机架;
电阻测试设备主体,所述电阻测试设备主体设置于所述机架上;
下探头,所述下探头设置于所述机架上且与所述电阻测试设备主体电性连接;
第一开关,所述第一开关设置于所述下探头与所述电阻测试设备主体之间,所述第一开关用于控制所述下探头与所述电阻测试设备主体电性连接;
夹持装置,所述夹持装置设置于所述机架上,所述夹持装置用于夹持导电载体一端并使得导电载体一端面的被测材料层与所述下探头接触;
连接线,所述连接线一端与所述电阻测试设备主体电性连接,所述连接线另一端用于在导电载体一端面的被测材料层与所述下探头接触后电性连接导电载体;
第二开关,所述第二开关设置于所述连接线与所述电阻测试设备主体之间,所述第二开关用于控制所述连接线与所述电阻测试设备主体电性连接;
升降板,所述升降板可升降设置于所述机架上,所述升降板用于下降至预定位置;
上探头,所述上探头设置于所述升降板上且与所述电阻测试设备主体电性连接,所述上探头用于跟随所述升降板下降至预定位置与导电载体另一端面的被测材料层接触;
第三开关,所述第三开关设置于所述上探头与所述电阻测试设备主体之间,所述第三开关用于控制所述上探头与所述电阻测试设备主体电性连接;
驱动装置,所述驱动装置设置于所述机架上,所述驱动装置用于驱动所述升降板下降至预定位置。
进一步改进的是:所述驱动装置包括驱动板、驱动件、若干根联动杆,
所述驱动板可升降设置于所述机架上且位于所述升降板上方;
所述驱动件设置于所述机架上,所述驱动件用于驱动所述驱动板下降至预定位置;
所述联动杆一端设置于所述驱动板上另一端用于托住所述升降板下端面。
进一步改进的是:所述驱动板靠近所述升降板那端面设置有压力测试探头,
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