[实用新型]一种便于安装的半导体测试探针

权利要求书

1.一种便于安装的半导体测试探针，包括安装座(2)，所述安装座(2)的内部设有方形槽(17)，所述安装座(2)的底部设有开口，且开口内设置有接头(4)，所述接头(4)的底部安装有半导体探针(5)，其特征在于：

所述方形槽(17)的两端开口内嵌装有内螺纹筒(16)，所述方形槽(17)的内部对称固定连接有两个固定块(8)，两个所述固定块(8)的相对一侧设置有磁力板(7)，所述接头(4)的顶部安装有铁片(11)，所述铁片(11)向上移动吸附在所述磁力板(7)上，所述接头(4)两侧设有插槽(12)，所述内螺纹筒(16)内螺纹连接有螺纹杆(3)，所述螺纹杆(3)的一端固定连接有连接杆(15)，所述连接杆(15)的一端通过轴承(10)转动安装有方形块(9)，所述方形块(9)在所述方形槽(17)内滑动，所述方形块(9)的一侧安装有插板(14)。

2.根据权利要求1所述的一种便于安装的半导体测试探针，其特征在于：所述安装座(2)底部的开口内对称安装有两个阻尼片(13)，所述阻尼片(13)的一端贴合于所述接头(4)的外部。

3.根据权利要求1所述的一种便于安装的半导体测试探针，其特征在于：所述安装座(2)的顶部设有电动推杆(1)，所述电动推杆(1)的活塞杆固定连接于所述安装座(2)的顶部。

4.根据权利要求3所述的一种便于安装的半导体测试探针，其特征在于：所述电动推杆(1)的顶部固定连接有连接板(6)。

5.根据权利要求1所述的一种便于安装的半导体测试探针，其特征在于：所述螺纹杆(3)的一端设有防滑纹。

6.根据权利要求2所述的一种便于安装的半导体测试探针，其特征在于：所述阻尼片(13)一端设置为倾斜状。