[实用新型]一种常温下光器件抗摔性能测试装置

说明书

本实用新型属于性能测试装置技术领域，尤其涉及一种常温下光器件抗摔性能测试装置，所述常温下光器件抗摔性能测试装置包括：支架；以及设在所述支架一侧的测试组件，用于对光器件进行抗摔性能测试；所述测试组件包括：与所述支架贴合的升降板；以及开在所述升降板内部的滑槽；所述滑槽的内部滑动连接有第一滑块；以及通过螺纹与所述第一滑块连接的测试螺杆；所述测试螺杆通过固定片与升降板连接。本实用新型通过设置调节组件，使得装置得以对测试高度进行调节，在本实施例中，通过将测试组件和调节组件结合，从而使得装置得以对光器件进行抗摔测试，并对测试结果进行量化分析，测试效果好，能力强，更加适宜推广使用。

技术领域

本实用新型属于性能测试装置技术领域，尤其涉及一种常温下光器件抗摔性能测试装置。

背景技术

光器件分为有源器件和无源器件，光有源器件是光通信系统中需要外加能源驱动工作的可以将电信号转换成光信号或将光信号转换成电信号的光电子器件，是光传输系统的心脏，光无源器件是不需要外加能源驱动工作的光电子器件。

当现有的常温下光器件抗摔性能测试装置，在使用中，无法对元器件的抗摔性能进行量化分析，测试能力有限。

由上可见，现有的常温下光器件抗摔性能测试装置，无法对元器件的抗摔性能进行量化分析，不适宜推广使用。

实用新型内容

本实用新型实施例的目的在于提供一种常温下光器件抗摔性能测试装置，以解决上述技术问题，所述常温下光器件抗摔性能测试装置包括：

支架；以及设在所述支架一侧的测试组件，用于对光器件进行抗摔性能测试；

所述测试组件包括：

与所述支架贴合的升降板；以及开在所述升降板内部的滑槽；

所述滑槽的内部滑动连接有第一滑块；以及通过螺纹与所述第一滑块连接的测试螺杆；

所述测试螺杆通过固定片与升降板连接；

所述测试螺杆的一侧固定连接有转把；

所述第一滑块上固定连接有第一置物架；

所述支架的一侧固定连接有刻度尺。

进一步的，所述测试螺杆上通过螺纹连接有第二滑块，所述第二滑块与滑槽滑动连接，所述第二滑块上固定连接有第二置物架。

进一步的，所述常温下光器件抗摔性能测试装置还包括：

调节组件，与所述升降板连接，用于对升降板的高度进行调节。

进一步的，所述调节组件包括：

驱动件，与所述支架连接；以及与所述驱动件连接的转动轴，所述转动轴与支架转动连接；

与所述转动轴固定连接的第一锥齿轮；以及与所述第一锥齿轮啮合的第二锥齿轮；

所述第二锥齿轮上固定连接有升降螺杆，所述升降螺杆与升降板通过螺纹连接，所述升降螺杆上远离第二锥齿轮的一侧与支架转动连接。

进一步的，所述第一锥齿轮、第二锥齿轮和升降螺杆的数量为两组，两组相同的所述第一锥齿轮、第二锥齿轮和升降螺杆对称分布在升降板两侧。

本实用新型提供的常温下光器件抗摔性能测试装置通过设置测试组件，使得装置得以对光器件进行抗摔测试，通过设置调节组件，使得装置得以对测试高度进行调节，在本实施例中，通过将测试组件和调节组件结合，从而使得装置得以对光器件进行抗摔测试，并对测试结果进行量化分析，测试效果好，能力强，更加适宜推广使用。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的一种常温下光器件抗摔性能测试装置的结构示意图；