[实用新型]一种多工位芯片测试机

说明书

本实用新型提供一种多工位芯片测试机，包括总基板，总基板安装有输送装置、上料装置和测试装置，测试装置包括测试底板和测试升降板，测试底板安装有自动转盘、测试滑轨、测试导柱和升降电机，自动装盘设有中心对称的若干个芯片载具，芯片载具设有测试孔，测试滑轨设置有滑块板，滑块板设有固定的上斜推座、测试横移螺母，升降电机设置有与测试横移螺母配合的测试横移丝杆，测试升降板的底部安装有测试升降导套和下斜推座，测试升降导套与测试导柱配合，下斜推座与上斜推座对称倾斜，测试升降板的顶部安装有中心对称并与芯片载具配合的测试器，测试器设置有测试针；述芯片测试机实现对多个芯片进行同时进行多项测试；本实用新型属于测试设备的技术领域。

技术领域

本实用新型属于测试设备的技术领域，尤其涉及一种多工位芯片测试机。

背景技术

芯片在制造过程，基本都会在出产前对芯片的各项性能进行测试，以保证产品出产后的质量。现有的测试工程中，主要是通过人工或机械手将芯片从输送带上取起放置在某一项测试设备内进行测试，等测试完成后再将该芯片从而测试设备取回并放置输送带，再由输送带将该芯片输送至另一项测试设备进行测试，从而导致现有的测试工程中，需要耗费大量时间等待每一项测试项完成测试，且需要在需要在每一测试设备所在的工位安排工作人员或机械手将该芯片放置测试设备内进行测试。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种多工位芯片测试机，实现同时对多个芯片进行多项测试，从而解决以上所述的技术问题。

本实用新型包括总基板，总基板安装有输送装置、上料装置和测试装置，测试装置包括测试底板和测试升降板，测试底板安装有自动转盘、测试滑轨、测试导柱和升降电机，自动转盘设有中心对称的若干个芯片载具，芯片载具设有测试孔，测试滑轨设置有滑块板，滑块板设有固定的上斜推座、测试横移螺母和芯片信息感应器，升降电机设置有与测试横移螺母配合的测试横移丝杆，测试升降板的底部安装有测试升降导套和下斜推座，测试升降导套与测试导柱配合，下斜推座与上斜推座对称倾斜，测试升降板的顶部安装有中心对称并与芯片载具配合的测试器，测试器设置有与测试孔配合的测试针，测试升降板设有与测试器中心对称并与芯片信息感应器的感应窗。

更佳的，测试装置还包括测试顶板，测试顶板安装有中心对称并与芯片载具配合的烧录器。

更具体的，上料装置包括左上料座、右上料座和上料横移板，左上料座顶部设有上料纵移滑轨，右上料座安装有上料纵移滑台气缸，上料横移板的一端安装有与上料纵移滑轨配合的上料纵移滑块，上料横移板的另一端安装固定于上料纵移滑台气缸上，上料横移板安装有上料横移滑台气缸，上料纵移滑台气缸设置有上料升降板，上料升降板安装有上料升降滑台气缸，上料升降滑台气缸设置有上料吸附器。

更具体的，输送装置位于总基板的下方；输送装置包括送料机架、顶料板和料盘；送料机架的两侧安装有托载料盘两侧的送料输送带，送料输送带旁安装有输送限位条，送料机架安装顶料螺母轴承座、顶料电机和顶料导套，顶料电机与顶料螺母轴承座传动连接，顶料板的底部安装有顶料丝杆和顶料导柱，顶料丝杆与顶料螺母轴承座配合，顶料导柱与顶料导套配合，顶料板与料盘配合。

更具体的，料盘的底部两侧设有托载口，输送装置的一端设置有进料装置；进料装置包括进料基板和进料升降板，进料基板安装有与料盘四角配合的落料限位板和落料伸缩气缸，落料伸缩气缸设置有与托载口配合的托载凸块，进料基板固定安装有进料导套和进料螺母，进料升降板设有进料滑槽，进料升降板安装有推入气缸，推入气缸设置有位于进料滑槽内的推板，进料升降板的底部安装有与进料导套配合的进料导柱，进料导柱的底端安装有进料底板，进料底板设置有进料升降电机和进料升降丝杆，进料升降电机与进料升降丝杆传动连接，进料升降丝杆与进料螺母配合。