[实用新型]时间差测量装置及系统

说明书

本实用新型提供了一种时间差测量装置及系统，该时间差测量装置中，在对多Pin芯片的引脚的时间差进行测量时，无需再使用继电器切换至同一时间差测量板卡的同一个测量通道，而是可以进行待测量通道的自由分配，提高了测试效率，且待测量通道之间的测量开始时间一致，测得的时间差结果准确，缓解了现有的对多Pin芯片的引脚的时间差进行测量时，测试效率低的技术问题。

技术领域

本实用新型涉及时间差测量的技术领域，尤其是涉及一种时间差测量装置及系统。

背景技术

自动化测试设备(AutomationTest Equipment，ATE)是半导体封装测试的关键装备，时间参数测量是ATE设备的关键功能技术。在模拟芯片测试领域，其测试设备主要是模拟测试机或数模混合测试机，自动化测试设备的时间测量单元在行业中称之为TMU(TimeMeasure Unit，时间测量单元)。时间差也叫做延迟时间(T_PD)、相位差，体现在A→B之间信号边沿的时间差距，有上升沿到上升沿、上升沿到下降沿、下降沿到上升沿、下降沿到下降沿等几种时间差参数类型。时间差参数测试是芯片待测量的重要参数，如传输门延迟时间。TMU板卡的每个测量通道均支持时间差参数测试，且时间差参数只支持在A、B支路内进行测试。

而对于多Pin芯片，在测试各个引脚的时间差时，需要使用继电器切换至同一TMU板卡的同一个测量通道的两个输入端口，这种时间差测量方式降低了测试效率，同时增加了产品测试转接板(device under test，DUT)的设计复杂度，造成了测试板的臃肿。

综上，如何对多Pin芯片的引脚的时间差进行高效测量成为目前亟需解决的技术问题。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的在于提供一种时间差测量装置及系统，以缓解现有的对多Pin芯片的引脚的时间差进行测量时，测试效率低的技术问题。

第一方面，本实用新型实施例提供了一种时间差测量装置，包括：通信总线板卡及与所述通信总线板卡连接的若干个时间差测量板卡；每一所述时间差测量板卡内均设置有多个测量通道，其中，与待测芯片提供的待测信号连接的测量通道为待测量通道；

所述通信总线板卡，用于根据上位机提供的时间差测量指令生成多路同源时钟信号与多路同步触发信号；

每一所述时间差测量板卡，用于接收所述多路同源时钟信号与多路同步触发信号，并根据所述多路同步触发信号对所述待测信号进行边沿时刻测量；

其中，所述通信总线板卡还用于对边沿时刻测量结果进行时间差计算，生成所述待测信号的时间差。

进一步的，所述通信总线板卡包括：

时钟源；

第一控制单元，与所述上位机连接，用于根据所述时间差测量指令生成触发信号；

信号分发器，分别与所述时钟源、所述第一控制单元连接，用于根据所述时钟源提供的时钟信号生成多路同源时钟信号；所述信号分发器还用于根据所述触发信号生成所述多路同步触发信号。

进一步的，所述信号分发器包括：

时钟分发器，与所述时钟源连接，用于接收所述时钟源发送的时钟信号，并根据所述时钟信号生成所述多路同源时钟信号，以将所述多路同源时钟信号发送至每一所述时间差测量板卡；

同步信号分发器，分别与所述第一控制单元、每一所述时间差测量板卡连接，用于接收所述第一控制单元发送的触发信号，并根据所述触发信号生成所述多路同步触发信号。

进一步的，每一所述时间差测量板卡均包括：