[实用新型]一种多维度微波天线检测测试装置有效
申请号: | 202221892274.2 | 申请日: | 2022-07-20 |
公开(公告)号: | CN218180980U | 公开(公告)日: | 2022-12-30 |
发明(设计)人: | 吴云;祝俊;秦睢睢;王玉红;龚非;张天恒;张明捷 | 申请(专利权)人: | 南京航天工业科技有限公司 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10;G01R1/04 |
代理公司: | 南京泰普专利代理事务所(普通合伙) 32360 | 代理人: | 张帆 |
地址: | 210000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 多维 微波 天线 检测 测试 装置 | ||
本实用新型涉及天线测试领域,具体涉及一种多维度微波天线检测测试装置,包括箱体、吸波部、被测物平台、转动组件、半圆支架、探头、检测组件和控制组件,采用箱体内部衬有吸波部来模拟天线测试环境,而后结构简单的转动组件通过单轴转动带动被测物平台与被测天线一起转动,同时启动检测组件与控制组件,检测组件为探头输送微波,由于多个探头呈弧形固定于半圆支架上,探头相对于天线作球体扫描,并且,转动组件工作时,通过信号反馈,使机构之间形成闭环控制,提升控制精度,实现环扫、扇扫、定点角度检测,完成天线空间辐射的检测,成本低效率高。
技术领域
本实用新型涉及天线测试领域,具体涉及一种多维度微波天线检测测试装置。
背景技术
为准确得到天线辐射方向图、增益、阻抗、或极化特性等指标,以往通常会在微波暗室或在室外远近场对天线进行测试。
然而,室外测试往往会受到外部干扰等因素影响较多,不能准确得出天线的各性能指标。
目前,通常采用微波暗室测试,但微波暗室测试一般成本很高,也不适合大批量检测,另外测试天线空间辐射性能时,则还需要二维转台配合完成,成本高且效率低。
实用新型内容
本实用新型专利的目的是提供一种模拟测试环境,不用二维转台配合完成天线空间辐射测试的问题。
技术方案:本实用新型提供一种多维度微波天线检测测试装置,包括箱体,所述箱体内安装有放置天线的被测物平台,所述被测物平台两端安装有能够通过单轴转动带动被测物平台转动的转动组件,所述被测物平台上方设置有半圆支架,所述半圆支架两端与箱体内壁固接,所述支架的弧面上均匀安装有用于检测扫描天线的探头,所述转动组件连接有检测组件和控制组件,所述箱体内部贴有能够模拟天线测试环境的吸波部。
采用箱体内部衬有吸波部来模拟天线测试环境,并配合结构简单的转动组件,只需采用单轴转动便能实现天线空间辐射性能的测试,成本低效率高;
并且将多个探头呈弧形分布于半圆形支架上,使得探头相对于天线做球体扫描,有效提高了天线空间性能测试效果,提高检测精度。
优选的,所述转动组件包括:
伺服电机,设有一个且固定安装在箱体外侧;
转动轴,设有两个且其一端通过轴承安装于箱体上,所述转动轴另一端与被测物平台固接;
所述箱体一侧的转动轴与伺服电机之间通过一号弹性联轴器实现固接,所述箱体另一侧的转动轴通过二号弹性联轴器与控制组件连接。
优选的,所述检测组件包括:
汇流环,所述汇流环与远离伺服电机一侧的转动轴转动连接,所述汇流环远离转动轴一端通过支架与箱体内壁固接,所述汇流环至少有两路;
发射源,与汇流环远离转动轴一端电连接;
所述发射源一侧设置有依次相连的射频开关、通道切换器和矢量网络分析仪,所述探头与射频开关电连接。
优选的,所述控制组件包括:
编码器,通过弹性联轴器与远离伺服电机一侧的转动轴连接;
数据采集器,与编码器电连接;
伺服控制器,位于箱体外部且与伺服电机电连接;
计算机,与数据采集器和伺服控制器电连接。
在对天线检测时,首先将待测天线放置于被测物平台上,而后通过伺服电机的动力传动带动被测物平台转动与被测天线一起转动;
同时,启动射频开关,为探头输送微波,由于多个探头呈弧形固定于半圆支架上,探头相对于天线作球体扫描;
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