[实用新型]一种挡料机构及半导体器件套管测试分选机

权利要求书

1.一种挡料机构，安装于底座（1）上，其特征在于，包括：

压料杆（2），中心可转动地安装于支撑杆（21）上，所述支撑杆（21）安装于所述底座（1）上；

压块（3），设于所述压料杆（2）的一端下方，所述压块（3）一端设有挡板（31），所述挡板（31）垂直于所述压料杆（2），所述压块（3）一侧设有滑轨（32），应用时，所述压料杆（2）将所述压块（3）向下压；

固定块（4），安装于所述底座（1）上，且位于所述压块（3）的一侧，所述固定块（4）侧面沿竖直方向设有滑块（41），所述滑轨（32）穿设于所述滑块（41）中。

2.根据权利要求1所述的挡料机构，其特征在于，所述压料杆（2）一端侧面设有凸轴（22），所述凸轴（22）上穿设有轴承（23），所述轴承（23）用于与所述压块（3）接触。

3.根据权利要求1所述的挡料机构，其特征在于，所述底座（1）上设有顶升气缸（5），所述顶升气缸（5）位于所述压料杆（2）另一端下方，用于将所述压料杆（2）顶起。

4.根据权利要求1所述的挡料机构，其特征在于，还包括安装于所述底座（1）上的传感器（6），且所述传感器（6）位于所述压块（3）另一侧，所述压块（3）另一侧还设有感应片（33），应用时，所述传感器（6）用于感应所述感应片（33）。

5.根据权利要求1所述的挡料机构，其特征在于，所述固定块（4）侧面还垂直设有固定销（42），所述固定销（42）上设有弹簧，且弹簧一端与所述压块（3）连接。

6.一种半导体器件套管测试分选机，其特征在于，包括：

两个对称布置的如权利要求1~5中任意一项所述的挡料机构，及

均安装于所述底座（1）上的测试轨道（7）、测试机构（8）、分料机构（9）；

挡料机构及所述测试轨道（7）分别设于所述分料机构（9）的两侧，且所述测试轨道（7）与所述分料机构（9）互相垂直；

所述测试机构（8）包括多个测试模块，所述测试模块均间隔均匀地设于所述测试轨道（7）的一侧，用于检测产品。

7.根据权利要求6所述的半导体器件套管测试分选机，其特征在于，所述分料机构（9）包括移动轨道（91）、多个间隔均匀布置的分料箱（92），所述移动轨道（91）垂直于所述测试轨道（7）布置，所述测试轨道（7）上设有沿其长度方向移动的分料滑块（93），用于承接测试完成的产品，所述分料箱（92）设于所述移动轨道（91）一侧，用于承接经过所述分料滑块（93）的产品，且与挡料机构位于同一侧，所述分料箱（92）连接有料管。

8.根据权利要求7所述的半导体器件套管测试分选机，其特征在于，应用时，所述挡板（31）位于所述分料箱（92）及所述移动轨道（91）之间。