[实用新型]一种DB防呆装置

说明书

本实用新型公开了一种DB防呆装置，包括防呆座、端子、测试站，所述防呆座上设置有固定螺纹孔、防呆螺纹孔一、防呆螺柱一，所述防呆螺柱一用于安装在防呆螺纹孔一上；所述防呆座通过固定螺纹孔与端子固定连接；所述测试站上的功能接口上设置有防呆螺纹孔二和防呆螺柱二，功能接口上的防呆螺柱二的安装位置与该功能接口功能相应的端子上的防呆螺柱一的安装位置相互匹配，不同功能的功能接口上的防呆螺柱二的安装位置不同形成防呆结构。本实用新型可降低因插错导致设备损坏以及芯片测试数据混乱。

技术领域

本实用新型涉及一种半导体测试设备电源输出接口的防呆结构，属于半导体测试技术领域。

背景技术

目前设备单Site(测试站)测试效率较低不能满足生产的需求，且无法满足一些复杂元器件的测试，多站测试应运而生，但是多站测试带来的就是多组信号电源线的区分问题。

现在的硬件设计趋向于高集成度，多站更是如此，每站内部电源输出以及Signal(信号) 输出需要区分，站与站之间的电源/Signal输出也需要区分。

实用新型内容

实用新型目的：半导体测试设备在多Site使用过程中，操作人员线缆接错，轻则会引起测试失效，数据传输错误，重则导致设备高低压之间的短路，造成设备故障影响人身安全。本实用新型提供一种DB防呆装置，该装置能够避免不同site/功能接口相互插错，减少不必要的损失。

技术方案：为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为：

一种DB防呆装置，包括防呆座、端子、测试站，所述防呆座上设置有固定螺纹孔、防呆螺纹孔一、防呆螺柱一，所述防呆螺柱一的数目小于防呆螺纹孔一的数目，所述防呆螺柱一用于安装在防呆螺纹孔一上。所述防呆座通过固定螺纹孔与端子固定连接。所述测试站上的功能接口上设置有防呆螺纹孔二和防呆螺柱二，所述防呆螺柱二用于安装在防呆螺纹孔二上，功能接口上的防呆螺柱二的安装位置与该功能接口功能相应的端子上的防呆螺柱一的安装位置相互匹配，不同功能的功能接口上的防呆螺柱二的安装位置不同形成防呆结构。

优选的：螺丝穿过固定螺纹孔将防呆座与端子固定连接。

优选的：所述防呆座包括连接在一起的正面和侧面，所述正面和侧面相互垂直，所述防呆螺纹孔一开设于正面上，所述固定螺纹孔开设于侧面上。

优选的：所述防呆螺纹孔一的个数为3个以上。

优选的：所述防呆螺纹孔二的个数为3个以上。

优选的：所述防呆螺纹孔一与防呆螺纹孔二的排列形状一致。

优选的：所述防呆螺纹孔一的个数为4个。

优选的：所述防呆座采用金属制成。

本实用新型相比现有技术，具有以下有益效果：

1.可降低因插错导致设备损坏，芯片测试数据混乱以及高压造成人身安全问题。

2.接口简单，改动较少，成本较低。

3.使用方便，便于培训相关操作人员。

附图说明

图1为防呆座结构示意图。

图2为防呆座与端子结构示意图。

图3为测试站结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本实用新型，应理解这些实例仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围，在阅读了本实用新型之后，本领域技术人员对本实用新型的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。