[实用新型]CMOS图像传感器测试机

说明书

本实用新型提供了一种CMOS图像传感器测试机，涉及半导体测试领域。其中，该CMOS图像传感器测试机包括：主控芯片、测量单元、以及开关矩阵单元，所述主控芯片包括图像测试模块和电性测试模块，并与所述开关矩阵单元相连，用于将上位机发送的测试信号传输至所述开关矩阵单元；所述开关矩阵单元，用于根据所述测试信号分别将所述图像测试模块或者所述电性测试模块，与待测器件(DUT)的不同引脚导通，所述引脚包括电源引脚和图像输出引脚；开关矩阵单元可控制DUT的电源引脚和/或图像输出引脚与电性测试模块和/或图像测试模块。本实用新型解决了相关技术中使用ATE设备和外接图像采集卡组合方式对CMOS图像传感器进行测试成本高的问题。

技术领域

本实用新型涉及半导体测试领域，具体而言，本实用新型涉及一种CMOS图像传感器测试机。

背景技术

CMOS图像传感器具有集成度高、功耗低、成本低等一系列优点，已经成为了互联网和物联网应用的核心传感器件。而CMOS图像传感器的设计、生产、封测等环节离不开测试过程，测试过程甚至能决定CMOS图像传感器的质量。

目前，主要使用ATE设备和外接图像采集卡组合方式对CMOS图像传感器进行测试，此方案通过ATE设备对CMOS图像传感器进行电性测试，再通过外接图像采集卡对CMOS图像传感器进行图像测试。但是，该方案存在集成度低造成测试成本高、占地面积大不利于生产线部署、系统复杂导致故障排查效率低等缺点。

由此可见，使用ATE设备和外接图像采集卡组合方式，对CMOS图像传感器进行测试成本高成为了亟需解决的问题。

实用新型内容

本实用新型各实施例提供了一种CMOS图像传感器测试机，可以解决相关技术中使用ATE设备和外接图像采集卡组合方式对CMOS图像传感器进行测试成本高的问题。所述技术方案如下：

根据本实用新型实施例的一个方面，一种CMOS图像传感器测试机，所述CMOS图像传感器测试机(CIS测试机)包括：主控芯片、测量单元、以及开关矩阵单元，其中，所述主控芯片包括图像测试模块和电性测试模块，并与所述开关矩阵单元相连，用于将上位机发送的测试信号传输至所述开关矩阵单元；所述开关矩阵单元，用于根据所述测试信号分别将所述图像测试模块或者所述电性测试模块，与待测器件(DUT)的不同引脚导通，所述引脚包括电源引脚和图像输出引脚；当所述电性测试模块通过所述开关矩阵单元分别与所述DUT的电源引脚和/或所述图像输出引脚导通，所述主控芯片控制所述测量单元采集所述DUT的电性参数，并将所述电性参数传输至所述电性测试模块进行电性测试；当所述图像测试模块通过所述开关矩阵单元与所述DUT的图像输出引脚导通，所述主控芯片控制所述图像测试模块对所述DUT输出的图像数据进行采集和图像测试。

在一示例性实施例中，所述开关矩阵单元包括高速信号开关组和低速信号开关组，其中，所述高速信号开关组包括第一输入端、第一开关部和第二开关部，所述第一输入端与所述主控芯片相连，所述第一开关部用于导通所述测量单元与所述DUT的图像输出引脚，所述第二开关部用于导通所述图像测试模块与所述DUT的图像输出引脚；所述低速信号开关组包括第二输入端和第三开关部，所述第二输入端与所述主控芯片相连，所述第三开关部用于导通所述测量单元与所述DUT的电源引脚。

在一示例性实施例中，所述引脚还包括输入输出引脚；所述低速信号开关组还包括第四开关部和第五开关部，所述第四开关部用于导通所述测量单元与所述DUT的输入输出引脚，所述第五开关部用于导通所述主控芯片与所述DUT的输入输出引脚。

在一示例性实施例中，所述CIS测试机还包括电源输出单元；所述低速信号开关组还包括第六开关部和第七开关部，所述第六开关部，用于在所述电源输出单元与所述DUT的电源引脚导通时，将所述电源输出单元输出的电源电压传输至所述DUT；所述第七开关部，用于在所述电源输出单元与所述DUT的电源引脚导通时，将所述DUT的工作电压传输至所述电源输出单元。