[实用新型]扫码装置有效
申请号: | 202222148966.2 | 申请日: | 2022-08-15 |
公开(公告)号: | CN217946774U | 公开(公告)日: | 2022-12-02 |
发明(设计)人: | 肖小波;袁俊;郑朝生;郑挺;肖思文 | 申请(专利权)人: | 广东利扬芯片测试股份有限公司 |
主分类号: | B65G47/74 | 分类号: | B65G47/74;B65G43/08;G06K7/10 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 刘光明 |
地址: | 523000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 装置 | ||
本实用新型公开了一种扫码装置,包括扫码器和支架,扫码器用于对竖向堆叠于进料区和/或出料区的物料盘贴设的标识码进行扫描;支架设于进料区和/或出料区,扫码器设于支架上,支架上设置有遮挡部,遮挡部用于为扫码器遮挡位于预设位置之外的物料盘的标识码。芯片测试机构的扫码装置通过扫码器对位于预设位置的物料盘贴设的标识码进行扫码,堆叠在预设位置之上的物料盘贴设的标识码通过支架上的遮挡部进行遮挡,从而防止扫码器对除预设位置之外的物料盘产生误扫而导致对预设位置的物料盘产生的漏扫,因此,能够防止后续分BIN时运用错误的芯片BIN项信息和坐标对芯片进行分盘,从而降低芯片分BIN时混料的风险。
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域,尤其涉及一种扫码装置。
背景技术
在芯片测试领域,芯片测试前,需要对承载芯片的物料盘进行扫码,记录标识码,芯片测试后,需要根据测试结果将物料盘各料槽的坐标及放置芯片的BIN项和对应的标识码关联,之后分BIN设备会根据测试后的芯片BIN项和记录的物料盘各料槽的坐标及放置芯片的BIN项将芯片放至对应的物料盘的料槽中,分BIN前需对物料盘进行扫码以调用物料盘各料槽的坐标及放置芯片的BIN项,方便分BIN。在进料区和出料区通常会堆叠大量物料盘,扫码器对物料盘进行扫码时,容易产生误扫或漏扫而导致芯片分BIN时产生混料的风险。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种扫码装置,能够防止分BIN时产生误扫或漏扫,降低混料风险。
为实现上述目的,本实用新型提供了一种扫码装置,包括:
扫码器,所述扫码器用于对竖向堆叠于进料区和/或出料区的物料盘贴设的标识码进行扫描,其中,竖向堆叠于所述进料区和所述出料区的所述物料盘被依次向下带动至预设位置,所述扫码器对位于所述预设位置的所述物料盘贴设的所述标识码进行扫描;
支架,所述支架设于进料区和/或出料区,所述扫码器设于所述支架上,所述支架上设置有遮挡部,所述遮挡部用于为所述扫码器遮挡位于所述预设位置之外的所述物料盘的所述标识码。
可选的,所述支架包括第一支杆和与所述第一支杆相交连接的第二支杆,所述第一支杆连接于所述进料区和/或所述出料区,所述第二支杆用于设置所述扫码器。
可选的,所述支架包括两间隔设置于进料区和/或所述出料区的所述第一支杆,两所述第一支杆分别连接于所述第二支杆的两端,所述第二支杆被配置为可沿两所述第一支杆的长度方向移动,所述扫码器被配置为可沿所述第二支杆的长度方向移动,以调整所述扫码器的位置。
可选的,两所述第一支杆上均匀分布有多个相对的第一螺孔,所述第二支杆的两端分别设有两第二螺孔,根据所述物料盘贴设的所述标识码的位置选择两所述第一支杆上对应位置的所述第一螺孔分别与两所述第二螺孔对准后进行锁合,以调整所述扫码器沿所述第一支杆的长度方向的位置。
可选的,所述支架还包括安装架,所述安装架用于安装所述扫码器,所述安装架设于所述第二支杆并可沿所述第二支杆的长度方向移动,以调整所述扫码器沿所述第二支杆的长度方向的位置。
可选的,所述安装架包括滑块、第一竖向安装板和第二竖向安装板,所述滑块沿所述第二支杆的长度方向滑动设置,所述第一竖向安装板与所述滑块固定连接,所述第二竖向安装板可竖向移动地设于所述第一竖向安装板以调整所述扫码器在竖向上的位置,所述扫码器安装于所述第二竖向安装板。
可选的,所述扫码器被配置为可相对所述第二竖向安装板竖向转动以调整所述扫码器的角度。
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