[实用新型]一种砖坯测温装置有效

专利信息
申请号: 202222241948.9 申请日: 2022-08-24
公开(公告)号: CN218469529U 公开(公告)日: 2023-02-10
发明(设计)人: 孔庆源;许保金;欧晓科;农祥;吴成波;孔繁卫 申请(专利权)人: 广东古宝斯陶瓷有限公司
主分类号: F26B15/12 分类号: F26B15/12;F26B23/00;F26B25/02;F25D25/04;F25D31/00;B28B11/04
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 邓志欣;刘春丽
地址: 526105 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 砖坯 测温 装置
【说明书】:

实用新型公开了一种砖坯测温装置,属于瓷砖生产设备技术领域,包括输送机构和测温组件;所述测温组件用于测量砖坯的温度;还包括控制器、以及分别设于输送机构上方的加热机构和冷却机构;所述测温组件包括第一测温机构和第二测温机构;所述加热机构和冷却机构均设于第一测温机构和第二测温机构之间。本实用新型通过在输送机构的上方设置加热机构和冷却机构,并设置测温组件对砖坯加热或冷却前后的温度进行测量,当干燥窑干燥出的砖坯的温度未在施釉所需温度范围内时,可通过加热机构或冷却机构使砖坯降温或再次升温,从而使砖坯输送到釉线之前,砖坯的温度能够达到施釉所需的温度,进而能够减少出现砖坯干燥后砖坯温度无法达到施釉要求的情况。

技术领域

本实用新型涉及瓷砖生产设备技术领域,特别涉及一种砖坯测温装置。

背景技术

瓷砖的生产工艺包括有原料准备阶段、成型阶段、施釉阶段以及釉烧阶段等,而在成型阶段中,砖坯依然带有一定的水分,砖坯的强度和硬度并不能用于施釉,因而砖坯施釉前需先对砖坯进行干燥处理。砖坯通过干燥窑干燥后,砖坯的温度会对施釉质量造成影响,若砖坯施釉时砖坯的温度过高或过低,会出现施釉不均匀或底釉易脱落的情况,因此,需要将干燥后的砖坯的温度控制在一定范围内才能更好的进行施釉操作。但是,砖坯通过干燥窑干燥后,仍可能存在砖坯温度无法达到施釉要求的情况,而这部分砖坯淋釉后,釉面缺陷多,从而使瓷砖的良品率下降。

可见,现有技术还有待改进和提高。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足之处,本实用新型的目的在于提供一种砖坯测温装置,旨在减少出现砖坯干燥后砖坯温度无法达到施釉要求的情况。

为了达到上述目的,本实用新型采取了以下技术方案:

一种砖坯测温装置,包括输送机构和测温组件;所述测温组件用于测量砖坯的温度;还包括控制器、以及分别设于输送机构上方的加热机构和冷却机构;所述测温组件包括第一测温机构和第二测温机构;所述加热机构和冷却机构分别与控制器电性连接,且加热机构和冷却机构均设于第一测温机构和第二测温机构之间;所述冷却机构用于冷却砖坯,加热机构用于加热砖坯。

所述的砖坯测温装置中,所述冷却机构包括出风管和与所述出风管连接的鼓风机;所述出风管沿输送机构的宽度方向架设于输送机构的上方,且出风管上设有沿出风管长度方向设置的吹风口。

所述的砖坯测温装置中,所述加热机构为沿输送机构宽度方向设置的红外发热管。

所述的砖坯测温装置中,所述输送机构的上方架设有反射罩;所述红外发热管设于反射罩内,所述反射罩用于将红外发热管产生的热量反射到输送机构上。

进一步的,所述的砖坯测温装置还包括设于所述输送机构上方的第二测温机构;所述第二测温机构用于测量输送机构上砖坯的温度;所述加热机构和冷却机构均设于第一测温机构和第二测温机构之间。

所述的砖坯测温装置中,所述第一测温机构和第二测温机构均为光纤红外测温仪。

所述的砖坯测温装置中,所述第一测温机构设于第二测温机构的上游;所述的砖坯测温装置还包括设于所述第二测温机构下游的吸尘管和与所述吸尘管连接的吸风机;吸尘管沿所述输送机构的宽度方向架设于输送机构的上方,且吸尘管上设有沿吸尘管长度方向设置的吸尘口。

所述的砖坯测温装置中,所述吸尘管连接有粉尘输送管;所述粉尘输送管连接有旋风分离器,所述旋风分离器与所述吸风机连接。

有益效果:

本实用新型通过在输送机构的上方设置加热机构和冷却机构,并设置测温组件对砖坯加热或冷却前后的温度进行测量,当干燥窑干燥出的砖坯的温度未在施釉所需温度范围内时,可通过加热机构或冷却机构使砖坯降温或再次升温,从而确保砖坯输送到釉线之前,砖坯的温度能够达到施釉所需的温度,进而能够减少出现砖坯干燥后砖坯温度无法达到施釉要求的情况,砖坯淋釉后,釉面缺陷能够减少,瓷砖产品的良品率也能够增加。

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