[实用新型]功率MOS器件封装结构有效

专利信息
申请号: 202222296643.8 申请日: 2022-08-31
公开(公告)号: CN218482233U 公开(公告)日: 2023-02-14
发明(设计)人: 田伟;廖兵 申请(专利权)人: 苏州达晶微电子有限公司
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488;H01L23/49;H01L23/29;H01L23/13;H01L23/31;H01L23/15;H01L23/10;H01L23/367
代理公司: 苏州科旭知识产权代理事务所(普通合伙) 32697 代理人: 姚昌胜
地址: 215163 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 功率 mos 器件 封装 结构
【权利要求书】:

1.一种功率MOS器件封装结构,其特征在于:包括:MOS芯片(1)、金属支撑片(2)、栅极引脚(3)、漏极引脚(4)和源极引脚(5),所述漏极引脚(4)由首尾连接的焊接条区(41)和引脚条区(42)组成,位于所述MOS芯片(1)上表面的栅极区(101)和源极区(102)分别通过第一金属线(61)和第二金属线(62)电连接到栅极引脚(3)和源极引脚(5)各自的焊接端,一环氧封装体(9)包覆于MOS芯片(1)、金属支撑片(2)和栅极引脚(3)、漏极引脚(4)和源极引脚(5)各自的焊接端上;

位于所述MOS芯片(1)下表面的漏极区(103)通过导电焊膏层(7)与一陶瓷片(8)上表面连接,所述漏极引脚(4)的焊接条区(41)位于导电焊膏层(7)内,漏极引脚(4)的引脚条区(42)位于栅极引脚(3)和源极引脚(5)之间;

所述金属支撑片(2)进一步包括支撑子片(10)和外延伸子片(11),位于所述陶瓷片(8)下表面的凸起块(81)嵌入支撑子片(10)的贯通区(201)并从贯通区(201)内延伸出,所述金属支撑片(2)的外延伸子片(11)位于环氧封装体(9)外侧,所述陶瓷片(8)的凸起块(81)底面与环氧封装体(9)底面齐平,所述金属支撑片(2)的支撑子片(10)上表面和下表面分别设置有上凸点(121)和下凸点(122)。

2.根据权利要求1所述的功率MOS器件封装结构,其特征在于:所述外延伸子片(11)上开有一圆形通孔(111)。

3.根据权利要求1所述的功率MOS器件封装结构,其特征在于:所述支撑子片(10)和外延伸子片(11)的相邻区两侧均设置有一缺口槽(13)。

4.根据权利要求1所述的功率MOS器件封装结构,其特征在于:所述陶瓷片(8)的凸起块(81)形状为方形或者圆形。

5.根据权利要求1所述的功率MOS器件封装结构,其特征在于:所述栅极引脚(3)和源极引脚(5)的宽度为1~2mm。

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