[实用新型]一种单片机通用老化板有效
申请号: | 202222416978.9 | 申请日: | 2022-09-13 |
公开(公告)号: | CN217932494U | 公开(公告)日: | 2022-11-29 |
发明(设计)人: | 别公利;代婷婷;张文远;刘红飞;李勇 | 申请(专利权)人: | 陕西固德电子技术有限公司 |
主分类号: | G05B19/042 | 分类号: | G05B19/042 |
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地址: | 710000 陕西省西安市高新区*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 单片机 通用 老化 | ||
本实用新型属于老化板技术领域,公开了一种单片机通用老化板,单片机通用老化板设置有接口电路;接口电路连接有被测芯片,被测芯片连接有编程电路,被测芯片还与晶体振荡器连接;被测芯片与稳压电路连接,被测芯片与复位电路连接,复位电路还与稳压电路连接;稳压电路还与外接电源连接。本实用新型具有编程灵活、设计开发周期短、适用被测芯片适应范围宽、效率高等特点;而且设计制造成本低、对设计者的硬件经验要求低、价格大众化,几乎适应于各类单片机的老化筛选。
技术领域
本实用新型属于老化板技术领域,尤其涉及一种单片机通用老化板。
背景技术
目前,单片机芯片是比较复杂的电子器件,种类繁杂,型号众多;近年来,随着美国对我国的技术封锁,单片机芯片的国产化率大幅提升,但由于我国在制造与工艺方面的与美国等欧美国家还存在一定差距,为了保证装机器件的质量,单片机芯片的二筛就显得尤为重要。
目前,现有技术单片机老化板完全依赖ELEA-V大规模集成电路测试设备,其控制和检测完全由测试设备完成,不能提高单片机二筛的效率和速度。为了提高单片机二筛的效率,亟需一种通用、适用范围大的单片机老化板设计方案,以提高老化板的设计更新速度和通用性。
实用新型内容
针对现有技术存在的问题,本实用新型提供了一种单片机通用老化板。
本实用新型是这样实现的,一种单片机通用老化板,所述单片机通用老化板设置有:
接口电路;
所述接口电路连接有被测芯片,被测芯片连接有编程电路,被测芯片还与晶体振荡器连接;
编程电路选用EPCS16SI16,其作用是提供相关数据,存储相关数据,其电路构成见图2。
所述被测芯片与稳压电路连接,被测芯片与复位电路连接,复位电路还与稳压电路连接;稳压电路还与外接电源连接。
被测芯片种类较多,以EP1C3T100I7N为例,其最小测试系统电路见图3。
复位电路,用于系统配置,复位后系统运行从初始化程序开始,其电路见图4。
稳压电路由AMS1117-1.5构成,其电路见图5。
进一步,所述接口电路通过控制信号与被测芯片连接,被测芯片通过回检信号与接口电路连接。
进一步,所述被测芯片与编程电路双向连接,被测芯片通过电路与LED灯连接。
进一步,所述复位电路与被测芯片为单向连接;稳压电路与复位电路为单向连接。
进一步,所述被测芯片与稳压电路为单向连接。
结合上述的技术方案和解决的技术问题,请从以下几方面分析本实用新型所要保护的技术方案所具备的优点及积极效果为:
第一、针对上述现有技术存在的技术问题以及解决该问题的难度,紧密结合本实用新型的所要保护的技术方案以及研发过程中结果和数据等,详细、深刻地分析本实用新型技术方案如何解决的技术问题,解决问题之后带来的一些具备创造性的技术效果。具体描述如下:
本实用新型既可以用ELEA-V大规模集成电路自动测试系统对被测单片机芯片进行老化,也可以通过通用高低温箱加外接电源对被测单片机芯片进行老化;本实用新型根据被测单片机的设计要求,建立最小系统,被测单片机编制完整的测试程序,完成对被测单片机芯片的测试,并通过机台回检或LED显示方式,对被测芯片的功能性能进行诊断,具有老化板设计更改方便,老化方式灵活通用的特点。
本实用新型根据被测单片机资料,设计最小系统及接口电路,其接口方式既可以通过金手指与老化机台相连接,也可以接外接电源自成系统,独立工作。
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