[实用新型]一种夹紧及顶升一体化测试机构

说明书

本实用新型旨在提供一种设计合理、结构紧凑、测试精度高且对探针具有保护作用的夹紧及顶升一体化测试机构。本实用新型包括底板，所述底板上设置有固定座，所述固定座的一侧铰接有把手和弯杆，所述弯杆的中部与所述把手的中部铰接，所述弯杆的自由端设置有压块，所述固定座的上端开设产品槽与所述压块配合，所述固定座内上下活动设置有探针座，所述产品槽内设有与所述探针座上的探针相配合的检测孔，所述底板上铰接有翘板，所述翘板的一端位于所述探针座的下方且另一端位于所述把手的下方。本实用新型可应用于产品测试的技术领域。

技术领域

本实用新型涉及产品测试的技术领域，特别涉及一种夹紧及顶升一体化测试机构。

背景技术

电子产品在制造完成后需要进行导通测试，以检验其是否存在故障。导通测试一般采用探针接触的方式与产品的导通点进行配合，从而实现电路的连接，以达到检测的效果。

公开号为CN 202710608 U的实用新型专利公开了一种PCBA测试架，包括底板、PCBA放置座和压板升降装置，PCBA放置座、压板升降装置均置于底板上，压板升降装置设有一压板，压板位于PCBA放置座的上方；其通过压板升降装置和 PCBA 放置座的配合，能实现测试针的准确定位，确保测试结果稳定，只需经过简单的按压手柄就可实现 PCBA的测试，提高了生产效率，可操作性强。

然而，上述专利采用下压压合的方式进行测试，机构动作单一，测试时带动探针下移与产品接触进行测试，产品在测试时并未进行固定，若有震动或晃动的情况出现，产品易出现位移、错位的情况，从而导致测试的精度下降，并且直接带动探针下压接触，易对探针造成损伤，增加测试成本。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种设计合理、结构紧凑、测试精度高且对探针具有保护作用的夹紧及顶升一体化测试机构。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括底板，所述底板上设置有固定座，所述固定座的一侧铰接有把手和弯杆，所述弯杆的中部与所述把手的中部铰接，所述弯杆的自由端设置有压块，所述固定座的上端开设产品槽与所述压块配合，所述固定座内上下活动设置有探针座，所述产品槽内设有与所述探针座上的探针相配合的检测孔，所述底板上铰接有翘板，所述翘板的一端位于所述探针座的下方且另一端位于所述把手的下方。

进一步，所述探针座内设置有PCBA，所述产品槽内设置有固定针柱，所述探针的下端与所述PCBA连接，所述探针的上端从所述固定针柱的上端穿出。

进一步，所述固定座的下端开设有浮动槽，所述探针座通过若干根等高螺丝和若干根弹簧上下浮动设置在所述浮动槽内。

进一步，所述固定座的一侧开设有铰接槽，所述把手和所述弯杆位于所述铰接槽内，所述固定座内设置有导向筒，所述导向筒的上端与所述铰接槽连接且下端与所述浮动槽连通，所述导向筒内适配设置有下压柱，所述下压柱的下端与所述翘板相配合，所述下压柱的上端与所述把手相配合。

进一步，所述底板上设置有铰接块，所述翘板的中部铰接在所述铰接块的上端，所述翘板的一端设置有抬升转轮与所述探针座相配合，所述翘板的另一端设置有卡槽且所述卡槽的两侧开设有腰型孔，所述下压柱的下端通过转轴与两个所述腰型孔相配合。

进一步，所述把手与所述下压柱配合的一端转动设置有下压转轮，所述下压柱的上端设置有配合斜面，所述下压转轮位于所述下压柱的上方并与所述配合斜面相配合。

进一步，所述把手的中部设置有中空槽，所述弯杆从所述中空槽中穿过并铰接在所述铰接槽内，所述中空槽内设置有防卡条，所述防卡条的一端与所述把手铰接，所述防卡条的另一端与所述弯杆铰接。

进一步，所述压块的下端设置有优力胶块，所述优力胶块的下端设置有仿形圆弧。