[实用新型]一种具有翻转功能的芯片测试机有效
申请号: | 202222493937.X | 申请日: | 2022-09-21 |
公开(公告)号: | CN218383168U | 公开(公告)日: | 2023-01-24 |
发明(设计)人: | 王春雷;李巍 | 申请(专利权)人: | 上海英晓实业有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201811 上海市嘉定区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 具有 翻转 功能 芯片 测试 | ||
1.一种具有翻转功能的芯片测试机,包括壳体(1)和支架(2),所述壳体(1)顶部的左右两侧均焊接有支架(2);
其特征在于,还包括:
滑杆(3),伸入滑动在左侧的支架(2)内,且滑杆(3)的底部键连接有啮合轮(4),所述啮合轮(4)的右侧伸入滚动杆(5)的内部与第一齿轮(6)的左侧相啮合,且啮合轮(4)的右侧伸出支架(2)的内部,并且所述滚动杆(5)的左侧转动连接在左侧支架(2)的内壁上;
第一齿轮(6),右侧与圆盘(7)的侧边相啮合,且所述圆盘(7)右端的上下两侧通过滑轮贴合有夹持盘(11),所述第一齿轮(6)的上下端通过轴承连接在滚动杆(5)的内部,并且夹持盘(11)的右侧固定有转杆(10),且所述转杆(10)伸入右侧支架(2)的内部,所述夹持盘(11)的右端键连接有涡轮(9),且涡轮(9)的后侧啮合有蜗杆(8),所述蜗杆(8)的顶部伸出支架(2)的顶部。
2.根据权利要求1所述的一种具有翻转功能的芯片测试机,其特征在于:所述圆盘(7)外圈设置有齿条,且圆盘(7)外圈上下端的长度大于圆盘(7)外圈齿条的长度。
3.根据权利要求2所述的一种具有翻转功能的芯片测试机,其特征在于:所述圆盘(7)的内侧壁固定有支撑杆(12),且两组支撑杆(12)呈镜像设置,并且所述支撑杆(12)的内侧伸入连接有往复丝杆(13)。
4.根据权利要求3所述的一种具有翻转功能的芯片测试机,其特征在于:所述往复丝杆(13)上设置有两组螺纹,且往复丝杆(13)上的两组螺纹呈相反设置,并且往复丝杆(13)的两组螺纹分别与两组移杆(14)相啮合。
5.根据权利要求4所述的一种具有翻转功能的芯片测试机,其特征在于:所述移杆(14)外侧的内壁上贴合有防滑胶(15),且防滑胶(15)为橡胶材质。
6.根据权利要求1所述的一种具有翻转功能的芯片测试机,其特征在于:所述滑杆(3)的底部设置有滚轴,且滑杆(3)外侧的支架(2)开槽可以使得滑杆(3)能够进行滑动。
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