[实用新型]一种芯片测试座

权利要求书

1.一种芯片测试座，其特征在于，包括：

测试底座(1)，所述测试底座(1)的顶部左侧设置有导向柱(101)，且导向柱(101)为圆柱形结构；所述导向柱(101)的圆周外壁上设置有限位盘(102)，且限位盘(102)为圆盘形结构；所述测试底座(1)的顶部右侧设置有控制栓(103)；所述导向柱(101)上设置有测试盖板(2)；所述测试盖板(2)的底部居中位置开设底槽(201)，且底槽(201)为圆形结构；所述底槽(201)的内部设置有压板(202)，且压板(202)为圆盘结构。

2.如权利要求1所述一种芯片测试座，其特征在于，所述测试底座(1)的顶部居中位置开设有芯片搁置槽(104)；所述芯片搁置槽(104)的底部开设有滑动槽(105)，且滑动槽(105)为圆柱形结构。

3.如权利要求2所述一种芯片测试座，其特征在于，所述滑动槽(105)的内部滑动安装有探针(106)；所述探针(106)的圆周外壁上设置有挡盘(107)，且挡盘(107)为圆盘形结构；所述挡盘(107)处于滑动槽(105)的内部。

4.如权利要求3所述一种芯片测试座，其特征在于，所述挡盘(107)的底部嵌入安装有弹簧A(108)的一端，且弹簧A(108)的另一端嵌入安装于滑动槽(105)的内侧底部；所述测试底座(1)的顶部开设有侧槽(109)；所述侧槽(109)与芯片搁置槽(104)相连通。

5.如权利要求4所述一种芯片测试座，其特征在于，所述侧槽(109)的内部设置有限位块(1010)，且限位块(1010)大体呈T形结构；所述限位块(1010)的顶部外侧开设有受力槽(1011)，且受力槽(1011)的底部呈倾斜状结构。

6.如权利要求5所述一种芯片测试座，其特征在于，所述限位块(1010)的内侧嵌入安装有弹簧B(1012)的一端，且弹簧B(1012)的另一端嵌入安装于侧槽(109)的内部；所述限位块(1010)的顶部内侧开设有调节槽(1013)。

7.如权利要求6所述一种芯片测试座，其特征在于，所述调节槽(1013)的内部设置有适应块(1014)；所述适应块(1014)的外侧嵌入安装有弹簧C(1015)的一端，且弹簧C(1015)的另一端嵌入安装于调节槽(1013)的外侧。

8.如权利要求1所述一种芯片测试座，其特征在于，所述压板(202)的顶部嵌入安装有弹簧D(203)的一端，且弹簧D(203)的另一端嵌入安装于底槽(201)的顶部；所述压板(202)的底部设置有压垫(204)，且压垫(204)为柔性材质；所述测试盖板(2)的底部设置有压块(205)；所述测试盖板(2)的右侧设置有螺母副(206)，且螺母副(206)与控制栓(103)相连接。