[实用新型]芯片测试辅助治具

权利要求书

1.一种芯片测试辅助治具，其特征在于：包括支架、操作组件、移动杆、固定板和接触组件，所述操作组件可转动支撑于所述支架上，并与所述移动杆铰接，所述移动杆与所述固定板连接，所述接触组件安装在所述固定板上，所述接触组件包括中间接触组件和外围接触组件，芯片放置于所述支架的预设位置上，所述操作组件可带动所述移动杆朝向预设位置方向移动，并带动所述中间接触组件与所述芯片的主体接触，同时所述外围接触组件与所述芯片的外引脚接触。

2.根据权利要求1所述的芯片测试辅助治具，其特征在于：还包括加强板，所述加强板与所述支架固定连接，所述操作组件安装于所述加强板上。

3.根据权利要求2所述的芯片测试辅助治具，其特征在于：所述支架包括底板、支撑板和安装板，所述底板上具有所述预设位置，所述支撑板固装于所述底板上，所述安装板固装于所述支撑板顶部，所述加强板可固定于所述安装板上的若干不同高度的安装位置上。

4.根据权利要求3所述的芯片测试辅助治具，其特征在于：所述操作组件包括压杆、固定部、第一连接部和第二连接部，所述压杆与所述第一连接部固定连接，所述固定部固接于所述加强板上，所述固定部与所述第一连接部铰接，所述第一连接部与所述第二连接部铰接，所述第二连接部与所述移动杆铰接。

5.根据权利要求4所述的芯片测试辅助治具，其特征在于：当所述压杆被下压时，所述移动杆与所述接触组件朝靠近所述底板方向移动，当所述压杆被上提时，所述移动杆与所述接触组件朝远离所述底板方向移动。

6.根据权利要求2所述的芯片测试辅助治具，其特征在于：所述加强板设有限位部，所述限位部设有容纳所述移动杆穿过的第一通孔，所述移动杆穿过所述第一通孔进行限位移动。

7.根据权利要求1所述的芯片测试辅助治具，其特征在于：还包括转接板，所述转接板设有容纳所述移动杆穿过的第二通孔，所述移动杆的下端设有螺纹，所述移动杆的下端穿过所述第二通孔，并通过所述转接板上下两侧的上螺母、下螺母与螺纹配合以将所述移动杆固定在所述转接板上，并可调节所述移动杆与所述转接板的固定位置，所述转接板与所述固定板固定连接。

8.根据权利要求1所述的芯片测试辅助治具，其特征在于：所述中间接触组件和外围接触组件均包括柱塞、弹性件、柱塞封盖、抵接部和触点；所述固定板设有贯穿的螺纹孔，所述柱塞封盖通过所述螺纹孔螺接固定于固定板上；所述柱塞封盖位于所述固定板下方的端面设有与所述螺纹孔同轴的安装孔；所述柱塞的一端穿进所述安装孔并与所述柱塞封盖形成下限位的移动连接，所述柱塞的另一端与所述抵接部螺纹连接，所述弹性件套设于所述柱塞上，且两端分别抵接于所述柱塞封盖与所述抵接部；所述触点安装于所述抵接部背离所述弹性件的一端上。

9.根据权利要求8所述的芯片测试辅助治具，其特征在于：所述触点为PI材质。

10.根据权利要求8所述的芯片测试辅助治具，其特征在于：所述中间接触组件的触点的底表面积大于所述外围接触组件的触点的底表面积。