[实用新型]PLCC封装产品的引脚平整度检测机构

说明书

本实用新型涉及检测技术领域，尤指一种PLCC封装产品的引脚平整度检测机构，包括用于盛放PLCC封装产品的治具、滑轨和支撑架，治具与滑轨滑动连接，支撑架架设在治具上方，治具与支撑架留有间隙，该间隙可供引脚平整的PLCC封装产品通过。本实用新型通过滑动治具，使得治具上的PLCC封装产品从间隙穿过来检测其引脚是否平整，这样的结构简单，成本低。

技术领域

本实用新型涉及检测技术领域，尤指一种PLCC封装产品的引脚平整度检测机构。

背景技术

PLCC(Plastic Leaded Chip Carrier)为特殊引脚芯片封装，它是贴片封装的一种，这种封装的引脚在芯片底部向内弯曲从封装的四个侧面引出，呈丁字型，是塑料制品，普遍应用于逻辑LSI、DLD等电路。

在PLCC封装产品的生产中，其产品成型完成后，根据需要，对产品的引脚平整度要求较高，通常需要对其进行平整度的检测。现有的检测方式是CCD(Charge CoupledDevice)影像检测仪来进行平整度检测，然而CCD影像检测仪价格高，如果要进行批量检测，检测成本很高。

实用新型内容

为解决上述问题，本实用新型提供一种PLCC封装产品的引脚平整度检测机构，结构简单，成本低。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是提供一种PLCC封装产品的引脚平整度检测机构，包括用于盛放PLCC封装产品的治具、滑轨和支撑架，所述治具与所述滑轨滑动连接，所述支撑架架设在所述治具上方，所述治具与所述支撑架留有间隙，该间隙可供引脚平整的PLCC封装产品通过。

作为一种优选方案，所述引脚平整度检测机构还包括底座，所述滑轨和所述支撑架安装在底座上，所述支撑架横跨架设在滑轨的中部。

作为一种优选方案，所述支撑架包括两块侧板和一块横板，两块侧板分别垂直设置在滑轨的两侧，所述横板的两端分别连接在两块侧板的顶部。

作为一种优选方案，所述横板的底部设置有凹槽，该凹槽与PLCC封装产品的对角相适配。

作为一种优选方案，所述治具的底部连接有滑块，所述滑块与所述滑轨滑动连接。

作为一种优选方案，所述治具的周缘向上凸起形成凸台，该凸台用于支撑PLCC封装产品的引脚。

作为一种优选方案，所述凸台设置有多个卡槽，该卡槽用于卡接PLCC封装产品。

本实用新型的有益效果在于：

本实用新型通过将PLCC封装产品放在治具，推动治具沿着滑轨移动，使得PLCC封装产品能从治具与支撑架之间的间隙穿过，若其引脚平整则可顺利通过，若其引脚翘起则无法通过，进而可以用来检测引脚是否平整。

附图说明

图1是引脚平整度检测机构的结构示意图。

图2是引脚平整度检测机构的剖面示意图。

图3是PLCC封装产品通过间隙时的结构示意图。

图4是图3的剖面示意图。

图5是治具的结构示意图。

附图标号说明：10-治具；11-凸台；12-卡槽；20-滑轨；30-支撑架；31-侧板；32-横板；33-凹槽；40-底座；50-滑块；60-间隙；70-PLCC封装产品。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。