[实用新型]一种探测器模架的检测装置

说明书

本实用新型一种探测器模架的检测装置，包括检测移动座，所述的检测移动座上设置有检测主体，所述的检测主体内设置有检转动精度为0.01度的转动装置，所述的转动装置与检测主体上端面设置的检测转盘连接，所述的检测转盘上开设有安装孔，安装孔通过螺栓安装有安装板，所述的安装板上通过叠放的安装块安装有光束发射器，叠放的安装块相邻的面均开设有弧形口，且叠放的安装块通过螺栓锁紧，最下层的安装块固定在安装板上。本实用新型的目的是提供一种探测器模架的检测装置，能够使光束发射器处于检测转盘的中心，进而确保光束发射器的发射点始终处于圆心位置，确保检测的精度。

技术领域

本实用新型涉及中国散裂中子源探测器应用领域，尤其涉及一种探测器模架的检测装置。

背景技术

中国散裂中子源探测器包括闪烁体探测器，现存闪烁体探测器由多个探测器模架组成，探测器模架由多个探测器模块组成，每个模块都装有很多波移光纤及反馈波移光纤是否接收到光信号的电子器件，在具体安装时，容易出现漏装部分波移光纤的情况，且玻璃光纤需要折弯成特定形状，波移光纤也可能出现折断或者导光率不足的问题，进而会影响到探测器模架在中国散列中子源探测中的应用，需要进行检测，由于探测器模架上的玻璃光纤数量庞大，且为弧形，很难实现完全的检测，因此亟需设计一种可以实现探测器模架上所有波移光纤全面检测的检测装置。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种探测器模架的检测装置，能够使光束发射器处于检测转盘的中心，进而确保光束发射器的发射点始终处于圆心位置，确保检测的精度。

为了实现以上目的，本实用新型采用的技术方案为：一种探测器模架的检测装置，包括检测移动座，所述的检测移动座上设置有检测主体，所述的检测主体内设置有检转动精度为0.01度的转动装置，所述的转动装置与检测主体上端面设置的检测转盘连接，所述的检测转盘上开设有安装孔，安装孔通过螺栓安装有安装板，所述的安装板上通过叠放的安装块安装有光束发射器，叠放的安装块相邻的面均开设有弧形口，且叠放的安装块通过螺栓锁紧，最下层的安装块固定在安装板上。

优选的，所述的检测主体的上端面还设置有检测限位块，所述的检测限位块内开设有用于限制检测转盘转动的检测限位孔。

优选的，所述的检测限位块的检测限位孔内套接有环形的刻度盘，所述的刻度盘与检测转盘套接配合，且刻度盘固定在检测主体的上端面。

优选的，所述的安装块的数量不少于三块，且相邻的安装块还安装有测距器，且测距器的测距起点与光束发射器的光束发射点处于同一竖直直线上，检测平台上还设置有与测距器配合并贴在探测器模架后侧板上的定位板。

本实用新型的技术效果为：通过检测装置的结构设计，能够使光束发射器处于检测转盘的中心，进而确保光束发射器的发射点始终处于圆心位置，确保检测的精度；测距器的设计，能够确定好光束发射器与探测器模架后侧板的间距，进而方便精准确定好光束发射器的发射点位置；检测限位块和检测刻度盘的设计，可以对检测转盘的转动进行限位，避免出现偏心情况，且检测刻度盘的设计，既能够反馈转动的幅度，同时还能够配合一块直尺对光束发射器的安装位置进行限定。

附图说明

图1为应用本申请的检测装置进行检测的立体示意图。

图2为应用本申请的检测装置进行检测的平面示意图。

图3为本申请检测装置的立体示意图。

图4为检测结构的立体示意图。

图中所示文字标注表示为：1、检测平台；2、探测器模架；3、检测装置；4、定位板；11、检测移动座；12、检测主体；13、检测限位块；14、检测转盘；15、安装孔；16、安装板；17、安装块；18、光束发射器；19、测距器；20、刻度盘。

具体实施方式