[实用新型]一种具有芯片调正功能的测试器

说明书

本实用新型公开了一种具有芯片调正功能的测试器，包括输送带、转移机构、测试机构和调正机构，转移机构和测试机构均设于输送带一侧，测试机构和输送带呈90°位于转移机构的两侧，调正机构位于测试机构的下方，调正机构包括支撑底板、支撑竖杆、定位壳、调正电机和测试盘，支撑竖杆设于支撑底板上，定位壳设于支撑竖杆上，定位壳内设有调正测试槽，调正电机设于支撑底板上，测试盘设于调正电机的输出轴上，测试盘转动设于调正测试槽内，测试盘内设有电磁铁一，定位壳的相对两侧壁上对应设有多组距离传感器。本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体提供了一种可以对芯片进行高效自动测试的具有芯片调正功能的测试器。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种具有芯片调正功能的测试器。

背景技术

芯片在封装厂封装完成后，要进行成品的最终测试。目前，常用的测试方法是在自动测试设备上进行测试。在测试过程中，通常是通过转移装置自动获取送料机构上的芯片，然后再将芯片放至测试模块中进行测试。然而，随着半导体制程工艺的进步，芯片的体积越来越小，重量也越来越轻，芯片的放置难度也是越来越大，送料机构上的芯片很容易出现放歪的问题，从而影响芯片测试的顺利进行。

实用新型内容

针对上述情况，为弥补上述现有缺陷，本实用新型提供了一种可以对芯片进行高效自动测试的具有芯片调正功能的测试器。

本实用新型提供如下的技术方案：本实用新型提出的一种具有芯片调正功能的测试器，包括输送带、转移机构、测试机构和调正机构，所述转移机构和测试机构均设于输送带一侧，所述测试机构和输送带呈90°位于转移机构的两侧，所述调正机构位于测试机构的下方，所述调正机构包括支撑底板、支撑竖杆、定位壳、调正电机和测试盘，所述支撑竖杆设于支撑底板上，所述定位壳设于支撑竖杆上，所述定位壳内设有调正测试槽，所述调正电机设于支撑底板上，所述测试盘设于调正电机的输出轴上，所述测试盘转动设于调正测试槽内，所述测试盘内设有电磁铁一，所述定位壳的相对两侧壁上对应设有多组距离传感器，所述距离传感器与调正电机均与控制器电连接。

为实现芯片的自动转移，所述转移机构包括防护箱、转移电机、主动齿轮、从动齿轮、转移轴、槽轮、安装板和转移吸附板，所述转移电机设于防护箱的底壁上，所述主动齿轮设于转移电机的输出轴上，所述从动齿轮上设有转轴，所述从动齿轮通过转轴转动设于防护箱内，所述从动齿轮与主动齿轮啮合，所述转移轴转动设于防护箱的顶壁上，所述槽轮设于转移轴的下端，所述主动齿轮上设有拨动柱一，所述从动齿轮上设有拨动柱二，所述主动齿轮和从动齿轮的中心处设有限位凸起，所述槽轮上间隔均匀设有四组限位弧形槽，所述槽轮上设有两组拨动槽，两组所述拨动槽分别为拨动槽一和拨动槽二，所述拨动槽一和拨动槽二呈180°夹角设置，所述拨动柱一、拨动柱二分别与拨动槽一、拨动槽二卡合适配，所述安装板设于转移轴的上端，所述转移吸附板设于安装板的下表面，所述转移吸附板内设有电磁铁二。

为实现芯片的测试，所述测试机构包括电动伸缩杆、测试板和测试模块，所述测试板设于电动伸缩杆的自由端，所述测试模块设于测试板的下表面，所述转移轴的高度小于电动伸缩杆伸展状态下的高度。

为实现良品芯片和次品芯片的分类收集，沿着所述输送带的运输方向设置有两组芯片收集机构，两组所述芯片收集机构分别为良品芯片收集机构和次品芯片收集机构，所述芯片收集机构包括固定板、推动气缸、推动板和收集盒，所述固定板位于输送带的一侧，所述推动气缸设于固定板上，所述推动板设于推动气缸的自由端，所述收集盒位于输送带的另一侧，所述收集盒与推动板对应设置。

采用上述结构本实用新型取得的有益效果如下：本实用新型提出的一种具有芯片调正功能的测试器，通过转移机构的设置实现了芯片于输送带和测试盘之间的转移，并通过调正机构对芯片进行调整，为测试机构的侧视提供了条件；本测试器可以对芯片进行高效自动测试，提高了芯片的测试效率。

附图说明