[实用新型]半导体激光器巴条测试台

权利要求书

1.一种半导体激光器巴条测试台，其特征在于，包括：

测试台主体(1)，所述测试台主体(1)具有一主体面(11)，所述主体面(11)具有第一区域和第二区域，所述半导体激光器巴条能够被可分离地固定在所述第一区域；

第一限制结构(13)，固定设置在所述主体面(11)的第二区域，并能够限制所述半导体激光器巴条于所述主体面(11)内沿自第一区域指向第二区域的方向移动，其中，所述第一限制结构(13)的高度小于所述半导体激光器巴条的厚度；

第二限制结构(2)，与所述测试台主体(1)活动连接，且位于所述第一限制结构(13)背对第一区域的一侧，且所述第二限制结构(2)至少具有第一状态和第二状态，当所述第二限制结构(2)保持第一状态时，所述第二限制结构(2)的全部位于所述第一限制结构(13)的顶部所在水平面以下，而当所述第二限制结构(2)保持第二状态时，至少所述第二限制结构(2)的局部位于所述第一限制结构(13)的顶部所在水平面以上。

2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器巴条测试台，其特征在于：还包括气体流通结构(12)，设置在所述主体面(11)的第一区域，所述气体流通结构(12)至少用于与一负压单元连通以将所述半导体激光器巴条吸附约束在所述主体面(11)上。

3.根据权利要求1所述的一种半导体激光器巴条测试台，其特征在于，所述第二限制结构(2)包括一挡板本体(21)，所述挡板本体(21)经一活动件(22)与所述测试台主体(1)转动连接。

4.根据权利要求3所述的一种半导体激光器巴条测试台，其特征在于：所述第二限制结构(2)还包括侧档条(23)，所述侧档条(23)设置于所述挡板本体(21)的两端处，并至少用于沿所述半导体激光器巴条的长度方向约束所述半导体激光器巴条。

5.根据权利要求4所述的一种半导体激光器巴条测试台，其特征在于：所述挡板本体(21)还包括一承接槽(211)，且位于所述第一限制结构(13)背对第一区域的一侧。

6.根据权利要求5所述的一种半导体激光器巴条测试台，其特征在于，所述测试台主体(1)上设置有与所述活动件(22)对应的配合槽(14)，所述活动件(22)能够活动设置在所述配合槽(14)中。

7.根据权利要求6所述的一种半导体激光器巴条测试台，其特征在于：所述配合槽(14)至少包括呈角度设置的第一槽体(141)和第二槽体(142)，所述第一槽体(141)与第二槽体(142)连通，所述活动件(22)能够沿所述第一槽体(141)和第二槽体(142)长度方向连续活动，并能够使所述第二限制结构(2)保持第一状态或第二状态。

8.根据权利要求7所述的一种半导体激光器巴条测试台，其特征在于：所述活动件(22)至少包括第一滑块(221)和第二滑块(222)，所述第一滑块(221)、第二滑块(222)固定设置在所述挡板本体(21)和/或所述侧档条(23)上。

9.根据权利要求8所述的一种半导体激光器巴条测试台，其特征在于：所述第一滑块(221)与第二滑块(222)呈一体设置。