[实用新型]一种多通道SPI接口测试装置

说明书

本实用新型提供了一种多通道SPI接口测试装置，包括测试机本体，所述测试机本体的一侧设置有多个测试接口，所述测试机本体的一侧且位于多个测试接口的上方通过基块一固定安装有滑杆，所述滑杆的表面滑动配合连接有多个防护板。通过向下转动防护板，使防护板在滑杆上进行转动关闭，当防护板转动关闭时，通过弧形卡勾与固定杆相卡接，达到固定防护板的作用，进而实现对测试接口进行防护遮挡的效果，同时通过设置的固定机构，能够对打开后的防护板进行固定限位，防止防护板发生偏移，有效避免了灰尘进入测试接口内部，造成测试接口内部积灰，影响连接效果的情况发生，极大程度上降低了维修成本。

技术领域

本实用新型涉及SPI接口测试设备技术领域，特别涉及一种多通道SPI接口测试装置。

背景技术

串行外设接口是一种同步外设接口，它可以使单片机与各种外围设备以串行方式进行通信以交换信息，外围设备包括FlashRAM，网络控制器、LCD显示驱动器、A/D转换器和MCU等。

申请号为：CN202020943494.8的实用新型专利，其公开了一种SPI通讯接口测试装置，包括：微控制器、双电源电路、过载保护电路、启断电控制电路和PC端，SPI通讯接口与所述微控制器连通，所述双电源电路输出端将电压信号传输给所述过载保护电路，并由所述微控制器进行信号控制，所述过载保护电路输出端与所述微控制器的供电电压端相连；本实用新型将因为外加双电压切换、启断电、过载保护，和外挂USB2.0PHY电路，提高了与PC的通讯速度和增加了双电压切换功能和具有过载保护的启断电测试，足以应用于可靠性测试方案；

虽然上述技术方案中解决了现有技术中通讯速度低、电压置换操作失误率高的技术问题，但是在使用过程中，由于现有的测试装置大多为多个接口的，当测试接口未全部连接被检测物品时，无法对未使用的接口进行防护，从而易造成灰尘或杂质进入接口内部，导致接口内部堵塞大量灰尘或杂质，进而容易影响使用连接效果，为此，提出一种多通道SPI接口测试装置。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型实施例希望提供一种多通道SPI接口测试装置，以解决或缓解现有技术中存在的技术问题，至少提供一种有益的选择。

本实用新型实施例的技术方案是这样实现的：一种多通道SPI接口测试装置，包括测试机本体，所述测试机本体的一侧设置有多个测试接口，所述测试机本体的一侧且位于多个测试接口的上方通过基块一固定安装有滑杆，所述滑杆的表面滑动配合连接有多个防护板；所述测试机本体的一侧且位于多个测试接口的下方通过基块二固定安装有固定杆，多个所述防护板的底部均固定安装有弧形卡勾，所述弧形卡勾与固定杆之间相配合卡接；所述测试机本体的顶部设置对防护板进行吸附的固定机构。

优选的：所述固定机构由多个第一磁铁和多个第二磁铁所构成，多个所述第一磁铁均固定安装在多个防护板的一侧，多个所述第二磁铁均固定安装在测试机本体的顶部，多个所述第一磁铁与多个所述第二磁铁之间相磁性连接。

优选的：所述测试机本体的两侧通过螺钉共同安装有U形支架，所述U形支架的底部固定连接有若干个弹簧，若干个所述弹簧的底端共同固定连接有连接板，所述连接板的一侧固定安装有支撑杆，所述支撑杆的顶端通过套管穿过U形支架固定连接有移动板，所述移动板的底部固定安装有若干个第一卡线块，所述U形支架的顶部固定安装有与若干个所述第一卡线块相配合使用的第二卡线块，所述第一卡线块与第二卡线块均为弧形结构，且两者均为橡胶材质，所述移动板的顶部固定安装有便于工作人员提拉的把手。

本实用新型实施例由于采用以上技术方案，其具有以下优点：

一、本实用新型当不使用接口测试接口时，通过向下转动防护板，使防护板在滑杆上进行转动关闭，当防护板转动关闭时，通过弧形卡勾与固定杆相卡接，达到固定防护板的作用，进而实现对测试接口进行防护遮挡的效果，同时通过设置的固定机构，能够对打开后的防护板进行固定限位，防止防护板发生偏移，有效避免了灰尘进入测试接口内部，造成测试接口内部积灰，影响连接效果的情况发生，极大程度上降低了维修成本，提高了设备的使用寿命。