[实用新型]一种表贴式晶振老化装置有效

专利信息
申请号: 202222978209.8 申请日: 2022-11-09
公开(公告)号: CN218886038U 公开(公告)日: 2023-04-18
发明(设计)人: 景宏涛;任旭东;关昭昭;颜晶;刘乐 申请(专利权)人: 西安西测测试技术股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04
代理公司: 北京金宏来专利代理事务所(特殊普通合伙) 11641 代理人: 陆华
地址: 710000 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 表贴式晶振 老化 装置
【权利要求书】:

1.一种表贴式晶振老化装置,其特征在于:包括PCB老化板、老化板连接器、测试座和整形模块;

所述PCB老化板通过老化板连接器与整形模块连接,所述老化板连接器与十六个所述整形模块电连接;

所述测试座与整形模块电连接,每个所述整形模块与三个测试座连接,所述测试座用于连接晶体谐振器。

2.根据权利要求1所述的表贴式晶振老化装置,其特征在于:所述整形模块的型号为DIP14-IC。

3.根据权利要求2所述的表贴式晶振老化装置,其特征在于:所述整形模块包括六个反相器,每个测试座对应两个反相器。

4.根据权利要求3所述的表贴式晶振老化装置,其特征在于:所述反向器的型号为CD4069UBE。

5.根据权利要求1所述的表贴式晶振老化装置,其特征在于:所述整形模块设有外接接口,外接接口用于人工检测。

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