[实用新型]一种针对陶瓷封装二极管的检漏装置

说明书

本实用新型提供了一种针对陶瓷封装二极管的检漏装置，涉及管道定位安装技术领域，包括穿设杆以及穿设安装在穿设杆上的承接盘，承接盘设置有若干个，承接盘上垂直贯穿开设有供气流通过的通气孔，承接盘的中心处垂直贯穿开设有供穿设杆穿设的穿设孔，承接盘底部对称设置有支撑垫圈；承接盘在穿设杆上通过定位件定位安装，定位件套设在穿设杆上，且定位件分别安装在对应承接盘的顶部和底部处，穿设杆顶部处固定有吊环，本实用新型结构合理，可以在检测的过程中方便根据器件种类以及数量的不同分别放置在不同的承接盘上，从而能在一次检测时就能对不同种类以及数量的器件进行检测，能提高封装二极管的检漏的整体工作效率。

技术领域

本实用新型涉及封装二极管检测技术领域，尤其涉及一种针对陶瓷封装二极管的检漏装置。

背景技术

电子元件封装密封的可靠性直接影响产品的性能，密封元件的表面任何部分的缺陷都可能使有害杂质或其他气体进入元件内腔，轻则使器件的性能劣化，重则对器件内部结构产生腐蚀，使电子器件失效，在进行检测时通常通过示踪气体氦细检漏，首先将封装器件放入压力容器中，通入氦示踪气体进行加压，根据器件的内腔体积确定具体的压力大小、加压时间和停顿时间，一般压力为206kPa或413kPa，加压时间为2～10小时，然后将其放入氦质谱检漏仪密封室内，通过抽真空，检测从器件内部逸出的氦气数量，从而测定器件的漏率。从理论上说，任何气体均可以作为检测媒质，采用氦气的理由在于氦为最轻的惰性气体，其质量比空气小得多，扩散速度是空气的2.7倍。同时，氦气很容易通过质谱分析仪进行检测。

因此实验室会配备检漏设备对器件的密封性进行测试，在实验过程中，检漏装置决定了在相同时间下，能够检测的器件数量的多少，也决定了试验过程中器件是否安全。

密封设备配备的检漏装置为简单的单层提篮，当器件数量、种类较多时，要分多批次进行试验，严重降低试验效率，由于部分器件加压检测时间较长，如何根据待检测器件的数量以及种类不同实现一次检测就能实现多个数量、多个种类器件检查是目前亟待解决的问题，因此需要一种新型检漏装置代替传统的单层提篮式夹具。

因此，本申请提供了一种针对陶瓷封装二极管的检漏装置来满足使用需求。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有技术的不足之处，提供一种针对陶瓷封装二极管的检漏装置，

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种针对陶瓷封装二极管的检漏装置，包括穿设杆以及穿设安装在所述穿设杆上的承接盘，所述承接盘设置有若干个，所述承接盘呈圆盘状结构，所述承接盘的外边缘向外突起，所述承接盘上垂直贯穿开设有供气流通过的通气孔，所述承接盘的中心处垂直贯穿开设有供穿设杆穿设的穿设孔，所述承接盘底部对称设置有支撑垫圈；

所述承接盘在所述穿设杆上通过定位件定位安装，所述定位件套设在所述穿设杆上，且所述定位件分别安装在对应所述承接盘的顶部和底部处，所述穿设杆顶部处固定有吊环。

优选的，所述定位件为六角螺栓，所述穿设杆上开设有外螺纹，所述六角螺栓上开设有供穿设杆穿设的螺纹孔，螺纹孔内开设有内螺纹，所述穿设杆与所述六角螺栓之间螺纹配合。

优选的，所述定位件为定位组件，所述定位组件包括半圆环状的卡接环，两个所述卡接环之间通过合页铰接安装，所述卡接环远离合页的一端突出设置有突出片，两个所述突出片上开设有卡接槽，所述卡接槽处安装有辅助两个突出片定位紧固的固定组件。

优选的，所述固定组件包括铰接柱以及水平固定在铰接柱上的定位杆，所述铰接柱铰接安装在一个所述卡接槽上，所述定位杆上套设安装有定位套环，所述定位套环与所述定位杆之间螺纹配合。

优选的，所述卡接环底部处突出设置有压覆片，所述压覆片呈半圆环片状结构，所述压覆片的直径大于所述卡接环的直径。

优选的，所述卡接环的内侧边上嵌设安装有密封垫，所述密封垫呈三角形垫状结构。