[实用新型]一种恒流二极管阵列可靠性试验电路

说明书

一种恒流二极管阵列的可靠性试验电路，属于半导体器件可靠性试验领域。包括：电源模块、异常指示模块、恒流二极管阵列老炼模块、正常指示模块、保护电路模块；电源模块为异常指示模块、恒流二极管阵列老炼模块、正常指示模块、保护电路模块提供所需电源；异常指示模块、恒流二极管阵列老炼模块、正常指示模块按顺序串联两端分别接电源模块的两端，保护电路模块与异常指示模块、正常指示模块相配合。解决了现有恒流二极管阵列可靠性试验电路不能对恒流二极管阵列产品质量进行有效判定的问题。泛应用于不同电流值下的恒流二极管阵列的可靠性筛选试验评估。

技术领域

本发明属于半导体器件可靠性试验领域，进一步来说涉及恒流二极管可靠性试验领域，具体来说，涉及一种恒流二极管阵列可靠性试验电路。

背景技术

恒流二极管是一种在一定电压范围内，电流基本不会发生变化的半导体器件，其应用为稳定支路的工作电流。恒流二极管阵列则表示在同一封装中，有多路相互隔离的恒流二极管所形成的阵列，本文中涉及的分析对象为4路25mA的恒流二极管阵列如图1所示。根据恒流二极管阵列的特点设计了该产品的可靠性试验验评估方法及电路。

在对恒流二极管阵列进行可靠性试验时，原有的常规评估方法的电路图如图2所示，其工作原理如下：

恒流二极管阵列的总电流基本保持不变为4I_H(I_H＝25mA)，调节恒流二极管阵列的两端电压V1，使得恒流二极管阵列的两端电压V1与恒流二极管阵列的总电流4I_H的乘积达到该阵列器件的最大耗散功率P_tot，从而达到可靠性试验的目的。恒流二极管阵列可靠性试验老炼功率计算公式如下：

P＝P_tot＝V1·D·I_H

其中D为阵列数目，例如：4路25mA陶瓷贴片封装恒流二极管阵列的额定功率为1.2W，则对该恒流二极管阵列进行可靠性试验时，需对器件的两端施加12V的电压(12V·4·25mA＝1.2W)。

此常规可靠性试验电路存在的问题主如下：

(1)对于恒流二极管阵列来说，若恒流二极管阵列在进行试验评估过程中，发生接触不良或阵列中某一路(或几路)出现故障，其它路完好的情况时，该电路只能通过测量采样电阻两端的电压进行判断，导致故障不能及时、直观地展现，无法及时处理，存在问题隐患；

(2)此电路中没有采取保护措施，当电源电压V1发生波动时，将直接影响恒流二极管阵列两端的电压，即V1↑→P_tot↑，功率升高导致器件发热超标从而影响器件可靠性。产品进行可靠性试验对电源的稳定有着严格的要求；

(3)由于电源直接连接在恒流二极管阵列的两端，当恒流二极管阵列的某一路(或几路)出现短路情况时，器件短路相当于电源两端接入一根导线，会使电源输出电流急剧增大，导致采样电阻烧毁，严重时甚至直接烧毁电源。

有鉴于此，特提出本发明。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：现有恒流二极管阵列可靠性试验电路如果出现某一路(或几路)出现接触不良、电路断路、电路短路、电源电压发生波动时，不能对恒流二极管阵列的产品质量进行有效的判定，不能系统地对恒流二极管阵列进行老化筛选、试验、鉴定等进行可靠性试验评估。

为此，本发明提供一种恒流二极管阵列的可靠性试验电路，如图3所示。包括电源模块、异常指示模块、恒流二极管阵列老炼模块、正常指示模块、保护电路模块。

所述异常指示模块、恒流二极管阵列老炼模块、正常指示模块按异常指示模块、恒流二极管阵列老炼模块、正常指示模块的顺序进行模块串联，串联后的电路两端分别接电源模块的两端。

所述电源模块为直流电源。