[实用新型]一种气缸下压的浮动微针测试结构有效

专利信息
申请号: 202223355248.9 申请日: 2022-12-14
公开(公告)号: CN219084995U 公开(公告)日: 2023-05-26
发明(设计)人: 韦锦景 申请(专利权)人: 中山市迅科达智能科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R1/073
代理公司: 深圳市精英创新知识产权代理有限公司 44740 代理人: 卢梓峰
地址: 528400 广东省中山市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 气缸 下压 浮动 测试 结构
【说明书】:

实用新型实施例公开了一种气缸下压的浮动微针测试结构,包括压板和设置于所述压板上的微针浮动机构;所述微针浮动机构上竖向设置有弹性件;所述弹性件夹持于所述微针浮动机构与所述压板之间,且所述微针浮动机构与所述压板之间设置有间隙;所述微针浮动机构包括一支撑板、直线轴承、限位条和测试机构;所述限位条和所述直线轴承均分别与所述压板和所述支撑板连接;所述测试机构通过第一连接件与所述支撑板的底面连接。本实用新型实施例通过设置所述弹性件配合所述微针浮动机构,使得所述微针浮动机构能够对待测元件进行单独测试,提高精准度。

技术领域

本实用新型涉及高端装备制造技术领域,尤其涉及一种气缸下压的浮动微针测试结构。

背景技术

现有技术中,微针测试结构大多跟随压板一起运动,在压板下压待测试元件后,微针测试结构也与待测试元件进行连接,所以微针测试结构和设置在压板上的其他测试结构同时测试元件,这将导致其他测试结构干扰到微针测试结构。因此,需要将微针测试结构变为单独测试项,当压板下压待测试元件并完成其他项的测试后,微针测试结构才开始连接待测试元件进行单独测试。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种气缸下压的浮动微针测试结构,旨在解决现有技术中微针测试结构无法单独对待测试元件进行单独测试的问题。

为解决上述技术问题,本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的:提供一种气缸下压的浮动微针测试结构,包括压板和设置于所述压板上的微针浮动机构;所述微针浮动机构上竖向设置有弹性件;所述弹性件夹持于所述微针浮动机构与所述压板之间,且所述微针浮动机构与所述压板之间设置有间隙;所述微针浮动机构包括一支撑板、直线轴承、限位条和测试机构;所述限位条一端固定连接于所述压板上、另一端滑动连接于所述支撑板上,用于对所述支撑板进行竖直向上方向的限位;所述直线轴承一端固定连接于所述压板上、另一端滑动连接于所述支撑板上,用于对所述支撑板进行竖直方向的移动进行导向;所述测试机构通过第一连接件与所述支撑板的底面连接;

进一步的,所述弹性件为第一弹簧;

进一步的,所述第一弹簧的一端与所述支撑板上开设的第一弹簧槽抵接,所述第一弹簧的另一端与所述压板上开设的第二弹簧槽抵接;所述限位条的一端固定设置于所述压板上的第一固定孔内,所述限位条的另一端滑动设置于所述支撑板上的第一通孔中;所述直线轴承的一端固定设置于所述压板上的第二固定孔内,所述直线轴承的另一端滑动设置于所述支撑板上的第二通孔内;

进一步的,所述限位条为螺丝,所述螺丝包括依次连接且直径依次减小的螺丝头、第一螺丝条和第二螺丝条;所述第二螺丝条螺纹连接于所述第一固定孔内,所述第一螺丝条表面光滑设置且裸露于所述压板上表面,所述第一通孔为贯通的沉孔,所述螺丝头安装于所述沉孔内;

进一步的,所述直线轴承包括滑动设置于所述第二通孔内的直线条套筒与固定设置于所述直线条套筒中的直线条,所述直线条的一端穿过所述直线条套筒,所述直线条的另一端固定设置于所述第二固定孔内;

进一步的,所述测试机构包括依次连接的第一固定板、上针块、第二固定板和下针块;所述第二固定板通过所述第一连接件与所述支撑板连接;所述第一固定板和所述上针块均通过第二连接件固定在所述第二固定板上;所述第二固定板上设置有一凹槽,所述下针块设置于所述凹槽内;

进一步的,所述上针块上设置有第三弹簧槽,所述下针块上设置有第四弹簧槽;所述第三弹簧槽和所述第四弹簧槽之间夹持有第二弹簧;

进一步的,所述上针块上还设置有探针槽,所述探针槽内设置有第一探针通孔,且所述上针块上设置的探针穿过所述第一探针通孔;

进一步的,所述凹槽的底部挖空且所述下针块向挖空处延伸出限位槽,所述上针块的底部嵌入所述限位槽;所述限位槽的底部设置有用于对准待测试元件的仿形槽;所述仿形槽内设置有用于适配所述探针的第二探针通孔;

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