[实用新型]一种外径千分尺有效

专利信息
申请号: 202223387260.8 申请日: 2022-12-17
公开(公告)号: CN219015146U 公开(公告)日: 2023-05-12
发明(设计)人: 师晓;董芳甫;冯凯;赵战国 申请(专利权)人: 河南应用技术职业学院
主分类号: G01B3/18 分类号: G01B3/18;G01B5/08
代理公司: 深圳贝谷知识产权代理事务所(普通合伙) 44635 代理人: 范福涛
地址: 450000 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 外径 千分尺
【说明书】:

实用新型公开了一种外径千分尺,包括尺架,所述尺架呈“U”字形结构,且尺架两端分别设置有测砧和测微头,所述测微头的测杆与所述测砧对应且两者同轴;所述测砧外侧设置有滑动架和弹性撑顶件,所述滑动架在所述弹性撑顶件的作用下仅沿测砧的轴向方向滑动,所述滑动架靠近测微头的外侧设置有定位头,所述定位头设置有两个,两个定位头的轴线与测砧的轴线处于同一竖直面上,且两个定位头以测砧的轴线为基准对称分布。有益效果在于:通过弹性撑顶件撑顶滑动架,使测砧两侧对称分布的定位头配合测砧与圆周件三点接触,从而使测砧与圆周件准确接触,进一步使测微头的测杆能够与圆周件准确接触,实现圆周件的快速定位,保证外径测量精度。

技术领域

本实用新型涉及千分尺技术领域,具体涉及一种外径千分尺。

背景技术

螺旋测微器又称千分尺、螺旋测微仪、分厘卡,是比游标卡尺更精密的测量长度的工具,用它测长度可以准确到0.01mm。外径千分尺是千分尺中的一种,主要用于外径或长度的测量,在使用外径千分尺进行外径的测量时,测砧和测微头的测杆分别与圆周件的对称外圆面接触,且为线接触,测砧或者测杆与圆周件接触不准确时严重影响测量精度。在利用外径千分尺进行外径测量时,不便于进行圆周件的定位,测量人员的操作经验直接影响测量精度。因此,设计一种能够对圆周件进行定位的外径千分尺。

实用新型内容

本实用新型的目的就在于为了解决上述问题而提供一种外径千分尺,详见下文阐述。

为实现上述目的,本实用新型提供了以下技术方案:

本实用新型提供的一种外径千分尺,包括尺架,所述尺架呈“U”字形结构,且尺架两端分别设置有测砧和测微头,所述测微头的测杆与所述测砧对应且两者同轴;

所述测砧外侧设置有滑动架和弹性撑顶件,所述滑动架在所述弹性撑顶件的作用下仅沿测砧的轴向方向滑动,所述滑动架靠近测微头的外侧设置有定位头,所述定位头设置有两个,两个定位头的轴线与测砧的轴线处于同一竖直面上,且两个定位头以测砧的轴线为基准对称分布。

采用上述一种外径千分尺,进行圆周件的外径测量时,使圆周件与所述测砧端部接触,在所述弹性撑顶件的撑顶作用下,两个所述定位头与圆周件的外圆面接触,配合所述测砧实现对圆周件的三点定位,调整所述测微头,且其测杆与圆周件接触,此时所述测砧和所述测微头的测杆与圆周件的接触点以圆周件的轴线为基准对称分布,实现对圆周件的准确定位,保证圆周件的外径尺寸的测量精度,整体操作简单便捷,测量精度高,不易受测量人员经验影响,使用效果好。

作为优选,所述弹性撑顶件为撑顶弹簧,所述测砧靠近所述测微头的端部成型有限位环,所述滑动架中部贯穿设置有导向孔,所述测砧与所述导向孔滑动配合,所述撑顶弹簧套装在测砧外侧,用于推动滑动架向所述测微头移动。

作为优选,所述测砧外圆面设置有限位槽,所述限位槽沿测砧轴向方向延伸,所述导向孔内壁成型有限位块,所述限位块与所述限位槽滑动配合。

作为优选,所述尺架位于所述测砧周边的侧面设置有定位沉孔,所述撑顶弹簧外侧与所述定位沉孔内壁抵接。

作为优选,所述定位沉孔内壁设置有通孔,所述通孔贯穿所述尺架远离测微头的侧壁,所述测砧远离限位环的端部成型有螺柱,所述螺柱贯穿所述通孔且通过螺纹连接有连接螺母。

作为优选,所述螺柱和所述测砧之间设置有连接柱,所述连接柱和所述通孔的截面均为方形,且所述连接柱与所述通孔间隙配合。

作为优选,所述滑动架两端向所述测微头折弯,且两个定位头分别设置在两个折弯部靠近测微头的侧面。

作为优选,所述定位头包括支撑柱,所述支撑柱靠近测微头的端部成型有接触球。

作为优选,所述滑动架端部的折弯部表面贯穿设置有螺纹孔,所述支撑柱螺纹连接在螺纹孔内部,所述支撑柱外侧螺纹连接有定位螺母,每根支撑柱外侧的定位螺母共有两个且分别位于滑动架的折弯部的两侧。

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