[实用新型]一种感光芯片测试插座

说明书

本申请涉及一种感光芯片测试插座，其特征在于，包括：底座，底座开有用于安装芯片的放置槽；铰接在底座一侧的压盖，压盖另一侧与底座形成扣合连接；压盖上贯通开有通槽，通槽上安装有摄像头，摄像头电连接有用于接收影响的显示端。本申请具有提升检测效率和检测准确性的优点。

技术领域

本申请涉及芯片检测的技术领域，尤其是涉及一种感光芯片测试插座。

背景技术

芯片是目前工业生产和生活中最常用的高精度电子产品，例如汽车、手机等需要控制系统的产品上均需要芯片的关键配合。

芯片在生产结束后需要进行检测才能正式投入使用，芯片的检测参数一般包括表面划伤、接触点接触损伤等缺陷。感光芯片是数码摄像头的重要组成部分，其一面具有感光区域，另一面具有传输信号的接触点，在检测感光芯片时需要检测其表面是否出现损伤，以及针脚的信号导通功能是否完整。

目前常规的做法是先利用显微镜观察感光芯片表面的损伤，再利用测试插座检测针脚的功能完整性，在此过程需要转移芯片，可能导致芯片转移过程出现损伤，并且需要经过至少两个步骤才能检测完成，对于检测效率也存在一定影响。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本申请提供一种感光芯片是数码摄像头的重要组成部分，其具有提升检测效率和检测准确性的优点。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案如下：

一种感光芯片测试插座，其包括：

底座，所述底座开有用于安装芯片的放置槽；

铰接在底座一侧的压盖，所述压盖另一侧与底座形成扣合连接；

所述压盖上贯通开有通槽，所述通槽上安装有摄像头，所述摄像头与用于接收影像的显示端电连接。

实现上述技术方案，将压盖压在芯片表面进行检测的过程中，摄像头实时将芯片表面的图像传输到显示端上，操作人员可以在检测的同时观察芯片的表面缺陷情况，从而有机将芯片针脚检测和表面缺陷检测集成在一起，提高检测效率，并且不需要转移芯片保障检测的准确性。

作为本申请的其中一个优选方案，所述通槽内插接有套筒，所述套筒底部向内水平设有压合凸沿用于接触并压紧芯片，所述摄像头设置在套筒顶端，所述套筒底部向外水平设有安装凸沿，所述安装凸沿螺钉连接在压盖上。

实现上述技术方案，摄像头通过套筒可拆卸连接在压盖上，从而便于摄像头的拆装维护。

作为本申请的其中一个优选方案，所述摄像头底部外侧设有螺纹，所述摄像头螺纹连接在套筒顶端。

实现上述技术方案，旋动摄像头即可调节摄像头底部与芯片表面之间的距离，即可通过机械式调节结构直接调节摄像头的焦距，更加便于检测过程的进行，提高适用性以及使用便捷性。

作为本申请的其中一个优选方案，所述套筒内设有用于提供光源的发光件。

实现上述技术方案，发光件可发出不同强度的光源，进而能够比较方便地测试感光芯片在不同光源强度下与PCB板连通的性能，从而提高适用性，提高检测效率。

作为本申请的其中一个优选方案，所述摄像头以及套筒外侧还罩设有遮挡套，所述遮挡套螺钉连接在压盖上，所述遮挡套上设有用于摄像头以及发光件电线通过的通孔。

实现上述技术方案，一方面遮挡套避免外界尘灰等杂质对于摄像头的影响，保证摄像头拍摄过程中的精准性从而提供更为清晰的画面供检测人员观察；另一方面遮挡套能够减少外界光源的影响，能够模拟较暗环境内感光芯片工作的性能。

作为本申请的其中一个优选方案，所述遮挡套顶端设有封盖，所述封盖螺纹连接在遮挡套内，所述通孔开设在封盖上。