[实用新型]一种芯片测试夹具

权利要求书

1.一种芯片测试夹具，其特征在于：包括

支架(1)，支架(1)底部焊接有支撑腿(2)，所述支撑腿(2)螺纹孔内设置有调整螺栓(3)，所述调整螺栓(3)底部固定安装有防滑板(4)，所述支架(1)顶部的中间开设有滑槽(5)，所述支架(1)顶部的两侧螺纹连接有支撑杆(7)；

夹紧调整结构(6)，夹紧调整结构(6)用于对芯片进行夹紧，且夹紧调整结构(6)设置于滑槽(5)的内壁；

支撑杆(7)，支撑杆(7)外壁滑动连接有滑块(9)，所述滑块(9)与支撑杆(7)之间固定安装有复位弹簧(8)；

测试结构(10)，测试结构(10)用于对芯片的锡珠进行放置，且测试结构(10)固定安装于滑块(9)的外壁。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试夹具，其特征在于：所述支架(1)的外壁安装有水平仪，所述水平仪的数量设置为四个。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试夹具，其特征在于：所述夹紧调整结构(6)包括传动丝杆(601)，所述传动丝杆(601)转动连接于滑槽(5)的内壁，所述传动丝杆(601)外壁螺纹连接有调整块(602)，所述调整块(602)滑动连接于滑槽(5)的内壁，所述调整块(602)顶部固定安装有夹板(603)，所述夹板(603)表面粘接有防滑条(604)。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试夹具，其特征在于：所述夹板(603)的数量设置为两个，两个所述夹板(603)对称分布于支架(1)的水平中心线的两侧。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试夹具，其特征在于：所述测试结构(10)包括安装板(1001)，所述安装板(1001)两端设置有安装条(1002)，所述安装板(1001)与滑块(9)通过安装条(1002)连接，所述安装板(1001)内部开设有放料孔(1003)，所述放料孔(1003)内壁的底部粘接有防静电圈(1004)。

6.根据权利要求5所述的一种芯片测试夹具，其特征在于：所述防静电圈(1004)设置为圆台形，所述防静电圈(1004)为隔热橡胶材质制成。