[发明专利]使用由内部固件进行自验证的用于NAND存储器的冗余数据保护在审
申请号: | 202280000363.8 | 申请日: | 2022-01-17 |
公开(公告)号: | CN114514581A | 公开(公告)日: | 2022-05-17 |
发明(设计)人: | 何有信 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | G11C16/34 | 分类号: | G11C16/34 |
代理公司: | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人: | 于景辉;李文彪 |
地址: | 430000 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 使用 内部 进行 验证 用于 nand 存储器 冗余 数据 保护 | ||
1.一种用于NAND闪存设备的编程方法,包括:
根据编程数据对所述NAND闪存设备的第一页和第二页进行编程,使得存储在所述第一页和所述第二页中的数据是冗余的,其中,所述第一页和所述第二页中的每个页包括与第一字线或第二字线相对应的多个存储单元,并且其中,对所述第一页和所述第二页的编程包括:
使用多个编程电压的多个编程操作;以及
多个验证操作,其中,所述多个验证操作中的一些验证操作是在所述多个编程操作中的相对应的一些编程操作之后执行的,以根据所述编程数据确定所述第一页的经编程存储单元是否具有阈值电压电平;
基于所述多个验证操作中的每个验证操作返回通过结果来确定对所述第一页和所述第二页的编程的完成;以及
在所述确定之后,执行由所述NAND闪存设备对所述第二页的读取操作,以根据所述编程数据对存储在所述第二页处的数据进行自验证。
2.根据权利要求1所述的编程方法,其中:
所述第一页被配置用于单层单元闪存(SLC)编程;并且
所述第二页被配置用于多层单元闪存(MLC)编程、三层单元闪存(TLC)编程或四层单元闪存(QLC)编程。
3.根据权利要求1所述的编程方法,其中,对所述读取操作的执行包括:与执行由一个或多个主机计算设备的所述读取操作以根据所述编程数据对存储在所述第二页处的数据进行外部验证相比,减少所述编程方法的完成的时间。
4.根据权利要求1所述的编程方法,还包括:释放所述第一页以接收新数据进行存储。
5.根据权利要求1所述的编程方法,其中,对所述读取操作的执行包括:
将从所述读取操作确定的所存储的数据和所述编程数据进行比较;以及
如果失败比特计数低于阈值则确定通过结果,或者如果所述失败比特计数高于阈值则确定失败结果。
6.根据权利要求1所述的编程方法,还包括:由所述NAND闪存设备接收输入以调整对所述读取操作的执行。
7.根据权利要求6所述的编程方法,还包括:将对所述读取操作的执行限制在所述NAND闪存设备中的由所述输入指定的一个或多个区域,其中,一个或多个指定的区域包括下列各项中的至少一项:
用于单层单元闪存(SLC)的区域;
用于多层单元闪存(MLC)的区域;
用于三层单元闪存(TLC)的区域;
用于四层单元闪存(QLC)的区域;
页;
块;以及
片存储区。
8.根据权利要求1所述的编程方法,还包括:延迟对未来编程数据的高速缓存直到对所述读取操作的执行之后。
9.根据权利要求8所述的编程方法,还包括:检测所述高速缓存的使用,其中,所述延迟是基于对所述高速缓存的使用的检测的。
10.一种NAND闪存设备,包括:
存储器阵列,所述存储器阵列包括第一页和第二页,所述第一页和所述第二页中的每个页包括与第一字线或第二字线相对应的多个存储单元;以及
外围电路,所述外围电路经由所述第一字线和所述第二字线耦合到所述第一页和所述第二页,并且被配置为:
根据编程数据对所述第一页和所述第二页进行编程,使得存储在所述第一页和所述第二页中的数据是冗余的,其中,对所述第一页和所述第二页的编程包括:
使用多个编程电压的多个编程操作;以及
多个验证操作,其中,所述多个验证操作中的一些验证操作是在所述多个编程操作中的相对应的一些编程操作之后执行的,以根据所述编程数据确定所述第一页的经编程存储单元是否具有阈值电压电平;
基于所述多个验证操作中的每个验证操作返回通过结果来确定对所述第一页和所述第二页的编程的完成;以及
在所述确定之后,执行由所述NAND闪存设备对所述第二页的读取操作,以根据所述编程数据对数据在所述第二页处的存储进行自验证。
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