[发明专利]安检中原子序数图像的处理方法

权利要求书

1.一种安检中原子序数图像的处理方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1.采集高/低能投影图像，对该图像进行投影分解处理，获取分解系数；基于分解系数，经处理，获取有效原子序数图像；其中，投影分解处理包括利用基效应模型或基材料模型，对高/低能投影图像进行投影分解；

S2.基于高/低能投影图像，经处理，得到断层图像；

S3.将断层图像和有效原子序数图像进行融合处理，得到更新后的有效原子序数图像。

2.根据权利要求1所述的安检中原子序数图像的处理方法，其特征在于，所述融合处理包括：

步骤A1：将断层图像和有效原子图像中对应相同位置的一个像素点作为处理点，使用断层图像中该处理点位置及其周围位置的像素值做为权重，并将该权重与有效原子图像中对应位置的像素值相乘后求和的结果，再除以断层图像中该处理点位置及其周围位置的像素值之和，作为更新后的有效原子序数图像该处理点的数值；其中，若断层图像中该处理点位置及其周围位置的像素值之和为小于等于0的数值，则将该位置数值赋值为0。

步骤A2：遍历断层图像和有效原子图像中对应相同位置的像素点，进行步骤A1的处理，获得更新后的有效原子序数图像。

3.根据权利要求1所述的安检中原子序数图像的处理方法，其特征在于，所述融合处理包括：

步骤B1：计算获得有效原子序数图像该处理点的数值S(u,v)，其更新过程如下：

其中，

W_u,v、H_d和H_r分别为权重总和、空域权重函数和值域权重函数，u为处理点在原子序数图像中的横坐标，v为处理点在原子序数图像中的纵坐标，(u，v)为处理点的位置；i、j为像素位置坐标变量，K为区域大小的一半；T(u,v)表示断层图像在处理点上的像素值。

步骤B2：遍历断层图像和有效原子图像中对应相同位置的像素点，进行步骤B1的处理，获得更新后的有效原子序数图像。

4.根据权利要求1所述的安检中原子序数图像的处理方法，其特征在于，基于高/低能投影图像，经处理，得到断层图像，包括：

基于高/低能投影图像，先使用重建算法重建得到高/低能投影图像的初始断层图像，再对重建后的初始断层图像做降噪、高/低能图像融合处理，更新初始断层图像，得到更新后的断层图像；或者，

在重建前对高/低能投影图像进行环状伪影校正或风车伪影处理，然后使用重建算法重建出高/低能投影图像的断层图像；或者，

在重建前对高/低能投影图像进行金属伪影校正处理，重建后再次进行金属伪影校正处理，得到断层图像。

5.根据权利要求4所述的安检中原子序数图像的处理方法，其特征在于，所述分解系数为基效应分解系数或基材料分解系数；

基于分解系数，经处理，获取有效原子序数图像，包括：

基于基效应分解系数进行重建和处理得到有效原子序数图像；或者，

基于基材料分解系数进行重建和处理得到有效原子序数图像。