[发明专利]量子高速调控磁测量方法及系统在审

专利信息
申请号: 202310003901.5 申请日: 2023-01-03
公开(公告)号: CN116593949A 公开(公告)日: 2023-08-15
发明(设计)人: 周峰;李小飞;聂琪;雷民;殷小东;胡浩亮;黄俊昌;潘瑞;刘京;余也凤 申请(专利权)人: 中国电力科学研究院有限公司;中国电力科学研究院有限公司武汉分院;国家电网有限公司
主分类号: G01R33/24 分类号: G01R33/24;G01R33/032
代理公司: 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 代理人: 傅婷
地址: 100192 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 量子 高速 调控 测量方法 系统
【权利要求书】:

1.一种量子高速调控磁测量方法,其特征在于,所述方法包括:

激光源向金刚石NV色心发射激光以使所述金刚石NV色心发出荧光强度信号;

区域频率定位部件测量得到当前待测磁场强度,基于所述当前待测磁场强度得到初步定位频率,并将所述初步定位频率发送至微波调制器;

微波调制器以所述初步定位频率为中心拓展频率范围,并以拓展后频率范围作为一个周期进行循环扫频;

数据采集及处理系统采集不同扫描频率下的荧光强度信号,对所述不同扫描频率下的荧光强度信号进行解析,得到不同波谷处的频率值,并根据所述不同波谷处的频率值与中心频率值,得到不同的磁场强度。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,区域频率定位部件基于所述当前待测磁场强度得到初步定位频率,包括:

区域频率定位部件基于所述当前待测磁场强度,通过波谷处的频率与中心频率的理论公式,得到当前波谷处的频率理论值作为初步定位频率。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述拓展后频率范围,包括:从fd1=fd×(1+a)+5×f0到fd2=fd×(1-a)-5×f0的范围;

所述一个扫频周期的时间为T2=t0×(fn-fc)/f0

其中,fd为初步定位频率,a为区域频率定位部件测量精度,f0为扫频的步长,t0为每一个步长所需时间。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,数据采集及处理系统根据所述不同波谷处的频率值与中心频率值,得到不同的磁场强度,包括:

数据采集及处理系统计算所述不同波谷处的频率值与中心频率值差值,得到不同的磁场强度。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述区域频率定位部件包括磁测量器件,用于测量得到当前待测磁场强度。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述磁测量器件包括但不限于霍尔器件、遂穿磁阻器件以及巨磁电阻。

7.一种量子高速调控磁测量系统,其特征在于,所述系统包括:

激光源,用于向金刚石NV色心发射激光以使所述金刚石NV色心发出荧光强度信号;

区域频率定位部件,用于测量得到当前待测磁场强度,基于所述当前待测磁场强度得到初步定位频率,并将所述初步定位频率发送至微波调制器;

微波调制器,用于以所述初步定位频率为中心拓展频率范围,并以拓展后频率范围作为一个周期进行循环扫频;

数据采集及处理系统,用于采集不同扫描频率下的荧光强度信号,对所述不同扫描频率下的荧光强度信号进行解析,得到不同波谷处的频率值,并根据所述不同波谷处的频率值与中心频率值,得到不同的磁场强度。

8.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述拓展后频率范围,包括:从fd1=fd×(1+a)+5×f0到fd2=fd×(1-a)-5×f0的范围;

所述一个扫频周期的时间为T2=t0×(fn-fc)/f0

其中,fd为初步定位频率,a为区域频率定位部件测量精度,f0为扫频的步长,t0为每一个步长所需时间。

9.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述区域频率定位部件包括磁测量器件,用于测量得到当前待测磁场强度。

10.根据权利要求9所述的系统,其特征在于,所述磁测量器件包括但不限于霍尔器件、遂穿磁阻器件以及巨磁电阻。

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