[发明专利]一种外置式智能化多功能GPU芯片测试装置在审

专利信息
申请号: 202310016176.5 申请日: 2023-01-06
公开(公告)号: CN116037517A 公开(公告)日: 2023-05-02
发明(设计)人: 黄永;李宗辉;邓仰东 申请(专利权)人: 深圳市恩钛控股有限公司
主分类号: B07C5/36 分类号: B07C5/36;B07C5/34;B07C5/02
代理公司: 深圳深知通专利代理事务所(普通合伙) 44783 代理人: 邹圣姬
地址: 518000 广东省深圳市南山区粤*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 外置 智能化 多功能 gpu 芯片 测试 装置
【说明书】:

发明涉及芯片测试技术,用于解决GPU芯片检测过后需人工进行不合格产品的剔除,费时费力,GPU芯片高温测试需借助加热设备,加热设备耗费较多的电力资源,传输带的抖动影响GPU芯片的检测精度且易对GPU芯片造成损伤的问题,具体为一种外置式智能化多功能GPU芯片测试装置,包括传输带;本发明通过对应的通电弹簧供给电路断开,翻转板在通电弹簧一作用下将GPU芯片呈抛物线抛出,通过制热箱内部液体的热量传输至传输带位置处,对传输带上的GPU芯片进行加热操作,通过检测位置处两侧设有的驱动辊和转动辊进行传输带传输方向的反向转动,使检测位置处的传输带被绷紧,不会因外界作用力发生抖动。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术,具体为一种外置式智能化多功能GPU芯片测试装置。

背景技术

GPU,即图形处理器,又称显示核心、视觉处理器、显示芯片,是一种专门在个人电脑、工作站、游戏机和一些移动设备上做图像和图形相关运算工作的微处理器;

现有技术中,对GPU芯片进行测试的过程中,需进行多种条件下GPU芯片的性能测试,每个性能测试后均需进行不合格测试品的剔除,采用人工剔除耗费较多的人力,且长时间的工作易导致工人的疲劳;

在GPU芯片进行第一步常温测试后,需对GPU芯片进行高温环境下的性能进行测试,模拟GPU芯片使用时高温影响,GPU芯片高温测试时,多采用外界加温设备进行升温,外界设备的使用消耗较多的电力资源;

传输带在进行GPU测试芯片的传输检测过程中,传输带不是处于极致紧绷的状态,使传输带在进行传输时,易因自身设备的运行和外界作用力的干扰发生轻微的抖动,用于检测的检测针卡与GPU芯片进行接触检测时,传输带的抖动易导致检测针卡与GPU芯片的接触深度处于波动状态,检测针卡插入深度较浅,易导致检测数据精度较低,插入深度较深,易导致检测针卡对GPU芯片造成损伤;

针对上述技术问题,本申请提出一种解决方案。

发明内容

本发明的目的就在于通过对应的通电弹簧供给电路断开,使移动挡板先将GPU芯片上抬至限位架上方,限位杆转动解开对GPU芯片的限制,后翻转板在通电弹簧一作用下呈抛物线抛出,通过制热箱内部液体的热量传输至传输带位置处,对传输带上的GPU芯片进行加热操作,无需借助外界加热设备的帮助,不会消耗过多的电力资源,通过检测位置处两侧设有的驱动辊和转动辊进行传输带传输方向的反向转动,使检测位置处的传输带被绷紧,不会因外界作用力发生抖动,影响对GPU芯片的检测结果,且位于传输带上方的转动辊可在载物架传输过程中自动进行避让,不会影响载物架在传输带上的传输,解决GPU芯片检测过后需人工进行不合格产品的剔除,费时费力,GPU芯片高温测试需借助加热设备,加热设备耗费较多的电力资源,传输带的抖动影响GPU芯片的检测精度且易对GPU芯片造成损伤的问题,而提出一种外置式智能化多功能GPU芯片测试装置。

本发明的目的可以通过以下技术方案实现:

一种外置式智能化多功能GPU芯片测试装置,包括传输带,所述传输带外侧壁一侧通过支架连接有检测针卡,所述传输带上表面连接有载物架,所述载物架上表面四个拐角位置处连接有限位架,所述传输带内侧壁连接有传输辊,所述传输带外侧壁两侧连接有传输带架,所述载物架上表面设置有剔除组件,传输带架外侧壁两侧设置有烘干组件,传输带架内侧壁对应所述传输辊位置处还设置有压带组件;

剔除组件包括翻转板,翻转板转动连接在所述载物架上表面的一侧,所述翻转板上表面开设有分割槽,所述载物架上表面远离转动座位置处开设有两个安装槽,所述安装槽内部下表面连接有通电弹簧一,所述限位架上表面两侧均通过转动节转动连接有限位杆,转动节外侧壁远离所述限位杆的一侧一体成型有转动挡板,所述限位架外侧壁对应所述转动挡板位置处连接有通电弹簧三,所述翻转板上表面对应所述限位杆位置处连接有通电弹簧二,所述通电弹簧二上端连接有移动挡板。

作为本发明的一种优选实施方式,剔除组件还包括滑动腔,滑动腔开设在所述限位架内侧壁对应所述移动挡板的位置处,滑动腔内部对应所述移动挡板位置处连接有限位板,若干个被分割的翻转板通过转动铰链转动连接。

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